INSPECTION APPARATUS

• Main Authors: DEEOLTS, Mr Benedict, KELF, Mr Timothy
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 27.07.2017
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

An inspection apparatus for inspecting a flow of particulate material, comprising: a background reflector (105) adjacent which in use falls a flow of particulate material (F); and a lighting unit (107) for illuminating an elongate viewing field (VF) across the background reflector (105), the viewing field (VF) having a first width (w1); wherein the lighting unit (107) comprises a fixed, non-scanning light source (115), and the light source (115) is formed of one or more light elements (120) which define a second width (w2 )which is shorter than the first width (w1) of the viewing field (VF). La présente invention concerne un appareil d'inspection pour inspecter un flux de matériau particulaire, comprenant : un réflecteur d'arrière-plan (105) en position adjacente auquel, en utilisation, tombe un flux de matériau particulaire (F) ; et une unité d'éclairage (107) pour éclairer un champ de vision allongé (VF) de part et d'autre du réflecteur d'arrière-plan (105), le champ de vision (VF) ayant une première largeur (w j) ; l'unité d'éclairage (107) comprenant une source de lumière fixe, non-balayage (115), et la source de lumière (115) est formée d'un ou plusieurs éléments lumineux (120) qui définit une deuxième largeur (w2) qui est plus courte que la première largeur (wi) du champ de vision (VF).