SELF-CHARACTERIZING HIGH-SPEED COMMUNICATION INTERFACES

• Main Authors: CHELLAPPAN, Satheesh, RANGANATHAN, Sridharan
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 22.06.2017
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

Logic controlling a local link interface enables in-band self-testing of the local link interface, the connected link interface of a remote device, and the link connecting the two. Logic configures a loopback in the remote device using an in-band protocol such as MIPI The loopback may include all the link lanes or only a selected subset. The logic then isolates the local physical layer from upstream components and causes one or more test patterns to be sent through the local link interface and through the link to the loopback. The signals returning to the local link interface from the loopback are collected and compared with the original test patterns by an on-board checker in the link interface. The results, or a metric such as BER derived from the results, can then be accessed without requiring a custom dedicated test port. Une logique de commande d'une interface de liaison locale permet l'essai automatique dans la bande passante de l'interface de liaison locale, de l'interface de liaison connectée d'un dispositif distant, et de la liaison reliant les deux. La logique configure un bouclage dans le dispositif distant au moyen d'un protocole dans la bande passante tel qu'un essai en boucle MIPI. Le bouclage peut comprendre toutes les voies de liaison ou uniquement un sous-ensemble sélectionné. La logique isole ensuite la couche physique locale des composants amont et commande la transmission d'un ou plusieurs motifs d'essai par l'intermédiaire de l'interface de liaison locale et à travers la liaison jusqu'au bouclage. Les signaux de retour à l'interface de liaison locale à partir du bouclage sont recueillis et comparés aux motifs d'essai d'origine par un vérificateur embarqué dans l'interface de liaison. Les résultats, ou une mesure métrique, tel que le taux d'erreurs binaires, dérivée des résultats, peuvent ensuite être consultés sans nécessiter un port d'essai spécialisé.