METHODS AND APPARATUSES FOR REGISTERING SUBSTRATES IN ABSORBENT ARTICLE CONVERTING LINES

The present disclosure relates to methods and apparatuses for detecting registration features. The apparatuses and methods may utilize sensors in combination with cylindrical optics that blurs the image sampling area in the cross direction, while maintaining focus in the machine direction. The blurr...

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Main Authors VARGA, Stephen, Michael, MORRIS, Taylor, Javier
Format Patent
LanguageEnglish
French
Published 18.05.2017
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Summary:The present disclosure relates to methods and apparatuses for detecting registration features. The apparatuses and methods may utilize sensors in combination with cylindrical optics that blurs the image sampling area in the cross direction, while maintaining focus in the machine direction. The blurring may create an averaging or blending effect of the hue values across the sampled area. The sensors may include red, green, blue (RGB) analog outputs that can characterize sensed registration features by a unique sequence that can be compared with a reference sequence. In turn, the substrate speed and/or tension can be adjusted base on the comparison to control the relative placement of advancing substrates and discrete components in converting lines. La présente invention concerne des procédés et des appareils pour détecter des éléments d'alignement. Les appareils et procédés peuvent utiliser des capteurs en combinaison avec un optique cylindrique qui rend floue la zone d'échantillonnage d'image dans la direction transversale, tout en maintenant la mise au point dans la direction machine. Le flou peut créer un effet de moyennage ou de mélange des valeurs de teinte dans la zone échantillonnée. Les capteurs peuvent comprendre des sorties analogiques rouges, vertes, bleues (RVB) qui peuvent caractériser des éléments d'alignement détectés par une séquence unique qui peut être comparée à une séquence de référence. En conséquence, la vitesse et/ou la tension du substrat peuvent être ajustées sur la base de la comparaison afin de commander le placement relatif d'un substrat avançant et de composants discrets dans des chaînes de transformation.
Bibliography:Application Number: WO2016US61224