DISPLAY DEVICE

• Main Authors: OGASAWARA Isao, YOSHIDA Masahiro
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 02.03.2017
• Subjects: ADVERTISING; CRYPTOGRAPHY; DEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH ISMODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THEDEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY,COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g.SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; DISPLAY; DISPLAYING; EDUCATION; FREQUENCY-CHANGING; LABELS OR NAME-PLATES; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICS; PHYSICS; SEALS; SIGNS; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF

According to the present invention, short circuiting of two connection lines to which the same signal is inputted is suppressed in an active matrix substrate. The active matrix substrate is provided with: first wirings each formed in a first wiring layer; second wirings each formed in a second wiring layer; third wirings that are each formed in a third wiring layer and to which a signal different from signals supplied to the first wirings and the second wirings is supplied; first connection lines that connect the first wirings or the second wirings to a first terminal; second connection lines that connect the third wirings to a second terminal; inspection TFTs (switching elements for the second connection lines) 61 connected to the second connection lines; and two or more common wirings 63 and 64 which are each connected to one of the inspection TFTs 61. The second connection lines 24c are connected to one of the common wirings via the inspection TFTs 61. Among pairs of the second connection lines 24c that are adjacent to each other, a pair of the connection lines 24c that are connected to an identical common wiring have a smaller interval therebetween than a pair of the connection lines 24c that are connected to different common wirings. Selon la présente invention, le court-circuitage de deux lignes de connexion dans lesquelles le même signal est entré est supprimé dans un substrat à matrice active. Le substrat à matrice active comporte : des premiers câblages formés chacun dans une couche de premiers câblages ; des deuxièmes câblages formés chacun dans une couche de deuxièmes câblages ; des troisièmes câblages qui sont formés chacun dans une couche de troisièmes câblages et auxquels un signal différent de signaux fournis aux premiers câblages et aux deuxièmes câblages est fourni ; des premières lignes de connexion qui connectent les premiers câblages ou les deuxièmes câblages à une première borne ; des secondes lignes de connexion qui connectent les troisièmes câblages à une seconde borne ; des transistors en couches minces (TFT) d'inspection (éléments de commutation pour les secondes lignes de connexion) (61) connectés aux secondes lignes de connexion ; et au moins deux câblages communs (63) et (64) qui sont connectés chacun à l'un des TFT d'inspection (61). Les secondes lignes de connexion (24c) sont connectées à l'un des câblages communs par l'intermédiaire des TFT d'inspection (61). Parmi des paires des secondes lignes de connexion (24c) qui sont adjacentes les unes aux autres, une paire des lignes de connexion (24c) qui sont connectées à un câblage commun identique ont un plus petit intervalle entre elles qu'une paire des lignes de connexion (24c) qui sont connectées à des câblages communs différents. アクティブマトリクス基板において、同じ信号が入力される２本の接続線の短絡を抑制する。アクティブマトリクス基板は、第１配線層に形成された第１配線と、第２配線層に形成された第２配線と、第３配線層に形成され、第１配線及び第２配線に供給される信号とは異なる信号が供給される第３配線と、第１配線または第２配線と第１端子との間を接続する第１接続線と、第３配線と第２端子との間を接続する第２接続線と、第２接続線と接続された検査用ＴＦＴ（第２接続線用スイッチング素子）６１と、各々がいずれかの検査用ＴＦＴ６１と接続された２本以上の共通配線６３，６４と、を備える。第２接続線２４ｃは、検査用ＴＦＴ６１を介していずれかの共通配線と接続されている。隣接する２本の第２接続線２４ｃのうち、同じ共通配線に接続されている第２接続線２４ｃ間の間隔は、異なる共通配線に接続されている第２接続線２４ｃ間の間隔よりも広い。