APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF PIXEL OR SUB-PIXEL FUNCTIONAL DEFECTS OF AN IMAGE DISPLAY
Method, and apparatus therefor, for detection of display pixel or sub-pixel functional defects of an image display, comprising the steps: outputting a sequence of image test patterns to the image display, wherein each image test pattern comprises image test pattern elements; inputting the images of...
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Format | Patent |
Language | English French |
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29.12.2016
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Summary: | Method, and apparatus therefor, for detection of display pixel or sub-pixel functional defects of an image display, comprising the steps: outputting a sequence of image test patterns to the image display, wherein each image test pattern comprises image test pattern elements; inputting the images of a test area of the image display through an optical system; defocusing the images in said optical system; acquiring images of the image test patterns by an image sensor optically coupled to the output of said optical system; and processing the images for detecting bright or dark defects with an electronic data processor, wherein the point spread function full width at half maximum of the optical system is smaller than the shortest distance between the images of any two elements of a test pattern, and the point spread function width of the optical system is substantially larger than the pixel pitch of the image sensor.
L'invention concerne un procédé et appareil pour celui-ci, pour la détection de défauts fonctionnels de pixels ou de sous-pixels d'affichage d'un dispositif d'affichage d'image, lequel procédé comprend les étapes consistant à : délivrer en sortie une séquence de motifs d'essai d'image au dispositif d'affichage d'image, chaque motif d'essai d'image comprenant des éléments de motif d'essai d'image ; entrer des images d'une zone d'essai du dispositif d'affichage d'image à l'aide d'un système optique ; défocaliser les images dans ledit système optique ; acquérir des images des motifs d'essai d'image par un capteur d'image couplé optiquement à la sortie dudit système optique ; et traiter les images pour détecter des défauts clairs ou sombres à l'aide d'un processeur de données électronique, la largeur totale de fonction d'étalement de point à la moitié du maximum du système optique étant inférieure à la distance la plus courte entre les images de deux éléments quelconques d'un motif d'essai, et la largeur de fonction d'étalement de point du système optique étant sensiblement supérieure au pas de pixel du capteur d'image. |
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Bibliography: | Application Number: WO2015IB54863 |