CRYSTAL MATERIAL, CRYSTAL PRODUCTION METHOD, RADIATION DETECTOR, NON-DESTRUCTIVE INSPECTION DEVICE, AND IMAGING DEVICE

A crystal material having a pyrochlore structure, non-stoichiometric composition, and congruent melting composition represented by general formula (1): RExA1-x-y-sByM's)2+α(Si1-t,M"t)2+βO7+γ. Wherein A includes at least one selected from Gd, Y, La, Sc, Yb, and Lu; B includes at least one s...

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Main Authors SHOJI, Yasuhiro, YOKOTA, Yuui, MURAKAMI, Rikito, OHASHI, Yuji, KAMADA, Kei, KUROSAWA, Shunsuke, HORIAI, Takahiko, YOSHIKAWA, Akira
Format Patent
LanguageEnglish
French
Japanese
Published 01.12.2016
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Summary:A crystal material having a pyrochlore structure, non-stoichiometric composition, and congruent melting composition represented by general formula (1): RExA1-x-y-sByM's)2+α(Si1-t,M"t)2+βO7+γ. Wherein A includes at least one selected from Gd, Y, La, Sc, Yb, and Lu; B includes at least one selected from La, Gd, Yb, Lu, Y, and Sc; 0.1 < y < 0.4; RE includes at least one selected from Ce, Pr, Nd, Eu, Tb, and Yb; 0 < x < 0.1; M' and M'' include at least one selected from Li,Na,K,Mg,Ca,Sr,Ba,Ti,Zr,Hf,Fe、Ta,and W; 0 ≦ s < 0.01 and 0 ≦ t < 0.01; and 0 < |α| <0.3, 0 ≦ |β| < 0.3, and 0 ≦ |γ| < 0.5. La présente invention concerne un matériau cristallin présentant une structure pyrochlorée, une composition non stœchiométrique, et une composition à fusion harmonieuse représentée par la formule générale (1) : RExA1-x-y-sByM's)2+α(Si1-t,M''t)2+βO7+γ. Où A inclut au moins l'un sélectionné parmi Gd, Y, La, Sc, Yb, et Lu ; B inclut au moins l'un sélectionné parmi La, Gd, Yb, Lu, Y, et Sc ; O.1 < y < 0,4 ; RE inclut au moins l'un sélectionné parmi Ce, Pr, Nd, Eu, Tb, et Yb ; 0 < x < 0,1 ; M' et M'' incluent au moins l'un sélectionné parmi Li, Na, K, Mg, Ca, Sr, Ba, Ti, Zr, Hf, Fe, Ta, et W ; 0 ≤ s < 0,1 et 0 ≤ t < 0,01 ; et 0 < |α| < 0,3, 0 ≤ |β| < 0,3 et 0 ≤ |γ| < 0,5. 一般式(1):(RExA1-x-y-sByM's)2+α(Si1-t,M"t)2+βO7+γで表され、パイロクロア型構造を持ち、非化学量論的組成、調和溶融組成である結晶材料。AはGd、Y、La、Sc、Yb及びLuから選択される少なくとも1種以上を含み、BはLa、Gd、Yb、Lu、Y及びScから選択される少なくとも1種以上を含み、0.1<y<0.4であり、REはCe、Pr、Nd、Eu、Tb、Ybから選択される少なくとも1種以上を含み、0<x<0.1であり、M'およびM"はLi,Na,K,Mg,Ca,Sr,Ba,Ti,Zr,Hf,Fe、Ta,Wから選択される少なくとも1種以上を含み、0≦s<0.01且つ0≦t<0.01であり、0<|α|<0.3且つ0≦|β|<0.3且つ0≦|γ|<0.5で表される。
Bibliography:Application Number: WO2016JP65837