INSPECTION APPARATUS

• Main Authors: SUGIMOTO Kazuyuki, MAKI Hiromi
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 29.09.2016
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

Provided is an X-ray inspection apparatus (10) provided with: an X-ray source (13) that applies X rays to a product that includes a plurality of types of items that are disposed at different positions; an X-ray detection unit (14) that detects transmitted X rays that pass through the product; an image generation unit (31) that generates an X-ray transmission image on the basis of the transmitted X rays; an inspection unit (35) that inspects the product for a defect on the basis of the X-ray transmission image; and a storage unit (34) that stores a plurality of item regions, each of which is set for an item among the plurality of types of items in association with the position of the item in the product, and binary thresholds, each of which is set for an item region among the plurality of item regions. The inspection unit (35) identifies the item regions on the basis of the X-ray transmission image, inspects each of the item regions on the basis of the corresponding binary threshold set for the item region, and determines whether the product has a defect on the basis of the result of the inspection. La présente invention concerne un appareil d'inspection aux rayons X (10) pourvu de : une source de rayons X (13) qui applique des rayons X à un produit qui comprend une pluralité de types d'éléments qui sont disposés à différentes positions ; une unité de détection de rayons X (14) qui détecte les rayons X transmis qui traversent le produit ; une unité de génération d'image (31) qui génère une image de transmission des rayons X sur la base des rayons X transmis ; une unité d'inspection (35) qui inspecte le produit pour un défaut sur la base de l'image de transmission de rayons X ; et une unité de stockage (34) qui stocke une pluralité de régions d'élément, dont chacun est défini pour un élément parmi la pluralité de types d'éléments en association avec la position de l'élément dans le produit, et des seuils binaires, dont chacun est défini pour une région d'élément parmi la pluralité de régions d'élément. L'unité d'inspection (35) identifie les régions d'élément sur la base de l'image de transmission de rayons X, inspecte chacune des régions d'élément sur la base de la définition de seuil binaire correspondante pour la région d'élément, et détermine si le produit a un défaut sur la base du résultat de l'inspection. 　Ｘ線検査装置（１０）は、複数種類の物品を含み且つ当該物品が異なる位置に配置された商品にＸ線を照射するＸ線源（１３）と、商品に照射された透過Ｘ線を検出するＸ線検出部（１４）と、透過Ｘ線に基づいてＸ線透過画像を生成する画像生成部（３１）と、Ｘ線透過画像に基づいて商品における不良を検査する検査部（３５）と、複数種類の物品毎に、商品における位置が対応付けられて設定された複数の物品領域、及び、当該物品領域毎に設定された二値化閾値を記憶する記憶部（３４）と、を備える。検査部（３５）は、Ｘ線透過画像に基づいて物品領域を特定し、当該物品領域毎に設定された二値化閾値に基づいて物品領域のそれぞれを検査して、当該検査結果に基づいて商品における不良の有無を判定する。