SPECTROMETRY DEVICE AND SPECTROMETRY METHOD

• Main Authors: SUZUKI KENGO, IGUCHI KAZUYA
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 09.06.2016
• Subjects: COLORIMETRY; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; MEASURING; PHYSICS; RADIATION PYROMETRY; TESTING

This spectrometry device (1) is provided with: a light source (10); an integrator (20); a first spectroscopic detector (41); a second spectroscopic detector (42); and an analysis unit (50). The integrator (20) is provided with: an internal space (21) in which an object to be measured is disposed; a light input unit (22) which inputs light into the internal space (21); a light output unit (23) which outputs light from the internal space (21); and a sample attachment unit (24) for attaching the object to be measured. The first spectroscopic detector (41) receives the light outputted from the integrator (20), disperses light of a first wavelength range among said light, and acquires first spectral data. The second spectroscopic detector (42) receives the light outputted from the integrator (20), disperses light of a second wavelength range among said light, and acquires second spectral data. The first wavelength range and the second wavelength range include wavelength ranges which partially overlap. As a result, a spectrometry device and a spectrometry method are achieved which are capable of performing spectrometry on light to be measured having an even broader wavelength range. L'invention concerne un dispositif de spectrométrie (1) qui comprend : une source de lumière (10) ; un intégrateur (20) ; un premier détecteur spectroscopique ; (41) un second détecteur spectroscopique (42) ; et une unité d'analyse (50). L'intégrateur (20) comprend : un espace interne (21) dans lequel est disposé un objet à mesurer ; une unité d'entrée de lumière (22) qui fait entrer la lumière dans l'espace interne (21) ; une unité de sortie de lumière (23) qui émet de la lumière à partir de l'espace interne (21) ; et une unité de fixation d'échantillon (24) qui permet de fixer l'objet à mesurer. Le premier détecteur spectroscopique (41) reçoit de la lumière émise par l'intégrateur (20), disperse la lumière d'une première plage de longueurs d'ondes parmi ladite lumière, et acquiert des premières données spectrales. Le second détecteur spectroscopique (42) reçoit la lumière émise à partir de l'intégrateur (20), disperse la lumière d'une seconde plage de longueurs d'ondes parmi ladite lumière, et acquiert des secondes données spectrales. La première plage de longueurs d'ondes et la seconde plage de longueurs d'ondes comprennent des plages de longueurs d'ondes qui se chevauchent partiellement. L'invention propose ainsi un dispositif de spectrométrie et un procédé de spectrométrie qui permettent d'assurer une mise en oeuvre de la spectrométrie sur la lumière à mesurer ayant une plage de longueurs d'ondes encore plus large. 　分光測定装置１は、光源１０、積分器２０、第１分光検出器４１、第２分光検出器４２および解析部５０を備える。積分器２０は、測定対象物が配置される内部空間２１と、光を内部空間２１に入力する光入力部２２と、内部空間２１から光を出力する光出力部２３と、測定対象物を取り付ける試料取付部２４と、を有する。第１分光検出器４１は、積分器２０から出力された光を受光して、その光のうち第１波長域の光を分光して第１スペクトルデータを取得する。第２分光検出器４２は、積分器２０から出力された光を受光して、その光のうち第２波長域の光を分光して第２スペクトルデータを取得する。第１波長域と第２波長域とは一部重複する波長域を含む。これにより、より広い波長域の被測定光を分光測定することができる分光測定装置および分光測定方法が実現される。