SURFACE TEXTURE INDEXING DEVICE, SURFACE TEXTURE INDEXING METHOD, AND PROGRAM

• Main Authors: UMEMURA, JUN, AKAGI, TOSHIO
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 11.09.2015
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

[Problem] To utilize measurement results obtained at multiple illumination wavelengths and measuring angles in order to achieve integrated indexing of the surface texture of an object being measured. [Solution] This surface texture indexing device is provided with: a measuring device for capturing images of illumination light reflected from the surface of an object being measured, while selecting wavelengths, to generate multiple captured images; and an arithmetic processing device for indexing the surface texture of the object being measured on the basis of the multiple captured images thus obtained. The captured images generated by the measuring device are identical in terms of the wavelength of the reflected light formed on an imaging device, but differ from one another in terms of the reflection angle of the reflected light formed on the imaging device, with respect to a direction corresponding to the lengthwise direction of the object being measured, within the captured images. By reconstituting multiple generated captured images, the arithmetic processing device generates multiple processed images that have the same wavelength of reflected light and reflection angle of reflected light in common with one another, and that are composed of pixels corresponding to different fields of view of the object being measured, and on the basis of the multiple generated processed images, indexes the surface texture of the object being measured. Le problème décrit par la présente invention est d'utiliser des résultats de mesure obtenus à plusieurs longueurs d'onde d'éclairage et mesurant des angles, et d'obtenir l'indexation intégrée de la texture de surface d'un objet en cours de mesure. La solution selon l'invention concerne un dispositif d'indexation de texture de surface qui comprend : un dispositif de mesure pour capturer des images de lumière d'éclairage réfléchie par la surface d'un objet en cours de mesure, tout en sélectionnant des longueurs d'onde, pour générer de multiples images capturées ; et un dispositif de traitement arithmétique pour indexer la texture de surface de l'objet en cours de mesure, sur la base des multiples images capturées ainsi obtenues. Les images capturées générées par le dispositif de mesure sont identiques en termes de longueur d'onde de la lumière réfléchie représentée sur le dispositif d'imagerie, mais diffèrent l'une de l'autre en termes d'angle de réflexion de la lumière réfléchie représentée sur le dispositif d'imagerie, dans une direction correspondant à la direction longitudinale de l'objet en cours de mesure, dans les images capturées. Par reconstitution de multiples images capturées générées, le dispositif de traitement arithmétique génère de multiples images traitées qui ont la même longueur d'onde de lumière réfléchie et l'angle de réflexion de lumière réfléchie en commun l'un avec l'autre, et qui sont composées de pixels correspondant à différents champs de vision de l'objet en cours de mesure ; et, sur la base des multiples images traitées générées, indexe la texture de surface de l'objet en cours de mesure. 【課題】複数の照明波長や測定角度による測定結果を利用して、測定対象物の表面性状を統合的に指標化すること。 【解決手段】本発明に係る表面性状指標化装置は、測定対象物の表面での照明光の反射光を、波長を選択しながら撮像することで複数の撮像画像を生成する測定装置と、得られた複数の撮像画像に基づいて測定対象物の表面性状を指標化する演算処理装置と、を備える。測定装置により生成される撮像画像は、撮像装置に結像した反射光の波長が同一であり、かつ、撮像画像における測定対象物の長手方向に対応する方向では撮像装置に結像した反射光の反射角が互いに相違している。演算処理装置は、生成された複数の撮像画像を再構成することで、反射光の波長と反射光の反射角とが互いに共通し、測定対象物の異なる視野位置に対応する画素から構成される処理対象画像を複数生成し、生成された複数の処理対象画像に基づいて、測定対象物の表面性状を指標化する。