METHOD, APPARATUS, AND ARTICLE TO FACILITATE EVALUATION OF SUBSTANCES USING ELECTROMAGNETIC ENERGY

Sampling device geometry reduces specular reflectance, using lenses to focus electromagnetic energy to predominately return scattered rather than reflected electromagnetic energy to detector(s), reducing effect of non-matte surfaces and/or window. Sampling device includes inherent automatic optical...

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Main Authors SCHOWENGERDT, BRIAN, T, DENTON, MICHAEL, VIVIAN, FURNESS, THOMAS, A. III, BEACH, ALLAN, DAVID, TOMPKINS, ALAN, CHARLES, MANDER, RICHARD, IAN
Format Patent
LanguageEnglish
French
Published 07.08.2014
Subjects
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
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Summary:Sampling device geometry reduces specular reflectance, using lenses to focus electromagnetic energy to predominately return scattered rather than reflected electromagnetic energy to detector(s), reducing effect of non-matte surfaces and/or window. Sampling device includes inherent automatic optical calibration, and optionally thermal calibration. Calibration detectors are optically isolated with respective emitters. L'invention concerne un dispositif d'échantillonnage dont la géométrie réduit la réflexion spéculaire, au moyen de lentilles pour focaliser l'énergie électromagnétique pour renvoyer essentiellement l'énergie électromagnétique diffusée plutôt que réfléchie vers le ou les détecteurs, ce qui réduit l'effet des surfaces et/ou d'une fenêtre non mates. Le dispositif d'échantillonnage comprend un étalonnage optique automatique inhérent et éventuellement un étalonnage thermique. Les détecteurs d'étalonnage sont optiquement isolés des émetteurs respectifs.
Bibliography:Application Number: WO2014US14656