DEPTH OF FIELD 3D IMAGING SLM MICROSCOPE

• Main Authors: PETERKA, DARCY S, YUSTE, RAFAEL, QUIRIN, SEAN ALBERT
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 31.07.2014
• Subjects: CALCULATING; CINEMATOGRAPHY; COMPUTING; COUNTING; ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE; ELECTRICITY; ELECTROGRAPHY; HANDLING RECORD CARRIERS; HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS; HOLOGRAPHY; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHOTOGRAPHY; PHYSICS; PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION; PRESENTATION OF DATA; RECOGNITION OF DATA; RECORD CARRIERS; TESTING

Spatial Light Modulator (SLM) microscopy can customize a sample illumination pattern from the microscope to simultaneously interrogate multiple targets localized within the sample. An exemplary SLM microscope arrangement can be used to image target locations at, e.g., arbitrary 3D coordinate by using, e.g., an extended Depth-of-Field computational imaging system. Multi-site three-dimensional targeting and sensing can be used in both transparent and scattering media. To that end, exemplary embodiments of system, method and computer-accessible medium can be provided for generating at least one image of at least one portion of a sample. For example, a computer hardware arrangement com be provided. Such exemplary arrangement can be configured to receive information related to light, modified by the sample, after being previously manipulated by a optical addressing (e.g., diffraction) arrangement. Such exemplary computer hardware arrangement can also generate the image(s) based on the information. L'invention concerne la microscopie par le biais d'un modulateur spatial de lumière (SLM), qui peut adapter un échantillon de profil d'éclairage à partir du microscope, afin de vérifier simultanément de nombreuses cibles localisées à l'intérieur de l'échantillon. Un agencement de microscope SLM donné à titre d'exemple peut être utilisé pour l'imagerie des emplacements cibles, notamment, aux coordonnées tridimensionnelles arbitraires, à l'aide, par exemple, d'un système d'imagerie informatique à profondeur de champ étendue. Le ciblage et la capture multisites tridimensionnels peuvent être utilisés dans des milieux transparents et diffusants. A cette fin, un mode de réalisation du système, du procédé et du support accessible par ordinateur, donné à titre d'exemple, produit au moins une image d'au moins une partie d'un échantillon. L'invention concerne, notamment, un agencement matériel informatique. Il est possible de configurer cet agencement, donné à titre d'exemple, pour recevoir des informations relatives à la lumière, modifiée par l'échantillon, après avoir été manipulée par le biais d'un agencement d'adressage optique (par ex. diffraction). Cet exemple d'agencement matériel informatique peut également produire une ou des images en fonction des informations.