MASS SPECTROMETER AND METHOD

In the present invention, the measurement state of a mass spectrometer is identified and the method used for the subsequent measurement can be automatically determined. Therefore, a mass spectrometer (1) is provided with: a first calculating unit (6) for calculating the total ion content of a mass s...

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Main Authors NISHIMURA KAZUSHIGE, KANEKO AKIHITO, KAWAGUCHI YOHEI, SUGIYAMA MASUYUKI
Format Patent
LanguageEnglish
French
Japanese
Published 20.03.2014
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Summary:In the present invention, the measurement state of a mass spectrometer is identified and the method used for the subsequent measurement can be automatically determined. Therefore, a mass spectrometer (1) is provided with: a first calculating unit (6) for calculating the total ion content of a mass spectrum; a second calculating unit (6) for calculating the half width of a representative peak selected from peaks that appear in the mass spectrum; and a controlling unit (7) for determining the measurement method used in the subsequent measurement, on the basis of the total ion content and the half width of the representative peak. Dans la présente invention, l'état de mesure d'un spectromètre de masse est identifié et le procédé utilisé pour la mesure suivante peut être déterminé automatiquement. Ainsi, un spectromètre de masse (1) est pourvu : d'une première unité de calcul (6) pour calculer la teneur en ions totale d'un spectre de masse ; d'une seconde unité de calcul (6) pour calculer la demi-largeur d'un pic représentatif sélectionné parmi des pics qui apparaissent dans le spectre de masse ; et d'une unité de commande (7) pour déterminer le procédé de mesure utilisé dans la mesure suivante, en fonction de la teneur en ions totale et de la demi-largeur du pic représentatif.
Bibliography:Application Number: WO2013JP66421