VARIABLE RESISTOR ARRANGEMENT, MEASUREMENT BRIDGE CIRCUIT AND METHOD FOR CALIBRATING A MEASUREMENT BRIDGE CIRCUIT

• Main Authors: MUELLER-FIEDLER, ROLAND, KRUEGER, VERONIQUE, HERRMANN, INGO
• Format: Patent
• Language: English; French; German
• Published: 10.05.2013
• Subjects: ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; PHYSICS; TARIFF METERING APPARATUS; TESTING

Die Erfindung betrifft eine Messbrückenschaltung (100), mit einem ersten und zweiten Ast. Im ersten Ast sind ein erster messgrößensensitiver Widerstand (R2(x)) und ein unveränderlicher Widerstand (Rfix,1 ) in Reihe geschaltet, wobei zwischen dem ersten messgroßensensitiven Widerstand (R2(x)) und dem unveränderlichen Widerstand (Rfix,1 ) eine erste Abgriffstelle (104) angeordnet ist. Im zweiten Ast ist ein zweiter messgroßensensitiven Widerstand (R1(x)) und eine variable Widerstandsanordnung (102) in Reihe geschaltet. Die Variable Widerstandsanordnung (102) weist ein erstes Bauelement (Rfix,2) mit einem unveränderlichen elektrischen Widerstandswert und ein zweites Bauelement (M) mit einem veränderbaren elektrischen Widerstandswert auf, wobei das zweite Bauelement parallel zu dem ersten Bauelement (Rfix,2) geschaltet ist, um einen elektrischen Gesamtwiderstandswert der Widerstandsanordnung (102) zu variieren. Zwischen dem zweiten messgroßensensitiven Widerstand (R1(x)) und der Widerstandsanordnung (102) ist eine zweite Abgriffstelle (106) angeordnet. Der erste Ast und der zweite Ast sind parallel geschaltet. Zwischen der ersten Abgriffstelle (104) und der zweiten Abgriffstelle (106) ist ein Messinstrument anordenbar. The invention relates to a measurement bridge circuit (100), having a first and a second branch. The first branch contains a first resistor (R2(x)) which is sensitive to measured variables and an invariable resistor (Rfix,1) connected in series, with a first tap point (104) being arranged between the first resistor (R2(x)) which is sensitive to measured variables and the invariable resistor (Rfix,1). The second branch contains a second resistor (R1(x))which is sensitive to measured variables and a variable resistor arrangement (102) connected in series. The variable resistor arrangement (102) has a first component (Rfix,2) having an invariable electrical resistance value and a second component (M) having a variable electrical resistance value, the second component being connected in parallel with the first component (Rfix,2) in order to vary a total electrical resistance value for the resistor arrangement (102). A second tap point (106) is arranged between the second resistor (R1(x)) which is sensitive to measured variables and the resistor arrangement (102). The first branch and the second branch are connected in parallel. A measuring instrument can be arranged between the first tap point (104) and the second tap point (106). La présente invention concerne un circuit en pont de mesure (100) composé d'une première et d'une deuxième branche. Dans la première branche sont couplées en série une première résistance sensible à une grandeur de mesure (R2(x)) et une résistance invariable (Rfix, 1). Un premier point de mesure (104) est disposé entre ladite première résistance sensible à une grandeur de mesure (R2(x)) et ladite résistance invariable (Rfix,1). Dans la deuxième branche sont couplés en série une deuxième résistance sensible à une grandeur de mesure (R1(x)) et un système de résistance variable (102). Le système de résistance variable (102) présente un premier composant (Rfix,2) dont la valeur de résistance électrique est invariable et un deuxième composant (M) dont la valeur de résistance électrique est variable ; le deuxième composant étant couplé en parallèle au premier composant (Rfix,2) afin de faire varier une valeur totale de résistance électrique du système de résistance (102). Entre la deuxième résistance sensible à une grandeur de mesure (R1(x)) et le système de résistance (102) est disposé un deuxième point de mesure (106). La première branche et la deuxième branche sont commutées en parallèle. Un instrument de mesure peut être disposé entre le premier point de mesure (104) et le deuxième point de mesure (106).