ADVANCED FUEL CRUD SAMPLING TOOL METHOD

• Main Authors: LAMANNA, LAURENCE, S, WILLSE, JOHN, T, POP, MIHAI, G.M, PUGH, ANTHONY, A
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 27.01.2011
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; NUCLEAR ENGINEERING; NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR REACTORS; PHYSICS; TESTING

A method to perform an analysis of two types of CRUD on a nuclear fuel rod, including providing a nuclear fuel rod with first and second layers of CRUD on an exterior of the fuel rod; brushing the first layer of CRUD from a selected area on the fuel rod with a CRUD tool having a brushing device; a force applied to the brushing device to remove the first layer of CRUD; collecting the first layer of CRUD from the brushing device, scraping the second layer of CRUD from the fuel rod in the selected area with the tool, wherein the tool has a scraping device and a second force is applied to the tool for scraping, collecting the second layer of CRUD from the scraping device, and analyzing the first and second layers of CRUD separately with a scanning electron microscope. Procédé d'analyse de deux types de CRUD (impuretés) sur une barre de combustible nucléaire, qui consiste : à prendre une barre de combustible nucléaire, notamment une telle barre présentant une première et une seconde couche de CRUD sur sa partie extérieure; à brosser la première couche de CRUD sur une zone choisie de la barre de combustible au moyen d'un outil de brossage; à appliquer une force sur le dispositif de brossage pour détacher la première couche de CRUD; à recueillir cette première couche de CRUD détachée par l'outil de brossage; à gratter la seconde couche de CRUD sur la barre de combustible dans une zone choisie avec l'outil, lequel outil est muni d'un dispositif de grattage, et à appliquer une seconde force sur le dispositif afin de gratter, à recueillir la seconde couche de CRUD sur le dispositif de grattage, et analyser les première et seconde couche de CRUD séparément au moyen d'un microscope à balayage électronique.