HOUSING, HOUSING PLACEMENT METHOD, AND MEASUREMENT METHOD

• Main Authors: NISHINA, SHIGEKI, KAWASE, KODO, KATO, EIJI
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 18.11.2010
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

In order to measure an object (1) using a terahertz wave measuring device, a housing (10) accommodates at least a part of the object (1) to be measured. The housing (10) is provided with a hollow portion (11) in which at least the part of the object (1) to be measured is disposed and an encircling portion (12) that has a first flat portion (S1) and a second flat portion (S2) between which the hollow portion (11) is disposed and that encircles the hollow portion (11). Furthermore, n1 - 0.1 = n2 = n1 + 0.1 is satisfied when the refractive index of the encircling portion is defined as n2 and that of the object to be measured is defined as n1. In addition, the first flat portion (S1) is orthogonal to a direction along which terahertz waves travel. La présente invention concerne un procédé pour la mesure d'un objet (1) au moyen d'un dispositif de mesure par ondes térahertz, selon lequel un boîtier (10) contient au moins une partie de l'objet (1) à mesurer. Le boîtier (10) est doté d'une partie creuse (11) dans laquelle au moins la partie de l'objet (1) à mesurer est disposée et une partie circonférentielle (12) qui comprend une première partie plate (S1) et une seconde partie plate (S2) entre lesquelles la partie creuse (11) est disposée et qui entoure la partie creuse (11). En outre, la relation n1 - 0.1 = n2 = n1 + 0,1 est satisfaite lorsque l'indice de réfraction de la partie circonférentielle est défini comme étant n2 et que celui de l'objet à mesurer est défini comme étant n1. Par ailleurs, la première partie plate (S1) est orthogonale à une direction selon laquelle les ondes térahertz se déplacent.