HIGH SPEED QUANTUM EFFICIENCY MEASUREMENT APPARATUS UTILIZING SOLID STATE LIGHTSOURCE

• Main Authors: ARBORE, MARK, A, VASILYEV, LEONID, A, KLEIN, DAVID, L, HUDSON, JAMES, E, HORNER, GREGORY, S, SCHMIDT, JOHN, M
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 10.09.2010
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

The present invention provides a high-speed Quantum Efficiency (QE) measurement device that includes at least one device under test (DUT), at least one conditioned light source with a less than 50nm bandwidth, where a portion of the conditioned light source 5 is monitored. Delivery optics are provided to direct the conditioned light to the DUT, a controller drives the conditioned light source in a time dependent operation, and at least one reflectance measurement assembly receives a portion of the conditioned light reflected from the DUT. A time-resolved measurement device includes a current measurement device and/or a voltage measurement device disposed to resolve a current 0 and/or voltage generated in the DUT by each conditioned light source, where a sufficiently programmed computer determines and outputs a QE value for each DUT according to an incident intensity of at least one wavelength of from the conditioned light source and the time-resolved measurement. La présente invention porte sur un dispositif de mesure de Rendement Quantique (QE) à vitesse élevée, qui comprend au moins un dispositif à tester (DUT), au moins une source de lumière conditionnée avec une largeur de bande inférieure à 50 nm, une partie de la source de lumière conditionnée 5 étant surveillée. Une optique de distribution est prévue pour diriger la lumière conditionnée vers le DUT, un dispositif de commande pilote la source de lumière conditionnée pour un fonctionnement dépendant du temps, et au moins un ensemble de mesure de réfléctance reçoit une partie de la lumière conditionnée réfléchie par le DUT. Un dispositif de mesure à résolution dans le temps comprend un dispositif de mesure de courant et/ou un dispositif de mesure de tension disposé pour résoudre un courant 0 et/ou une tension générée dans le DUT par chaque source de lumière conditionnée, un ordinateur suffisamment programmé déterminant et émettant une valeur de QE pour chaque DUT selon une intensité incidente d'au moins une longueur d'onde de la source de lumière conditionnée et de la mesure à résolution temporelle.