SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
Provided is a semiconductor device wherein sputter generated by laser welding is prevented from adhering to a circuit pattern and a semiconductor chip and eliminates deterioration of electric characteristics are eliminated. A method for manufacturing such semiconductor device is also provided. A con...
Saved in:
Main Authors | , , , |
---|---|
Format | Patent |
Language | English French Japanese |
Published |
02.07.2009
|
Subjects | |
Online Access | Get full text |
Cover
Loading…
Summary: | Provided is a semiconductor device wherein sputter generated by laser welding is prevented from adhering to a circuit pattern and a semiconductor chip and eliminates deterioration of electric characteristics are eliminated. A method for manufacturing such semiconductor device is also provided. A connecting conductor (14) is adhered with a solder (13) to a copper foil formed on a ceramic material (4), and a resin (17a) is applied to a level lower than an upper surface (P) of the connecting body (14) and laser welding is performed. Sputter (21) generated in laser welding due to application of the resin (17b) after laser welding is prevented from adhering to circuit patterns (5, 6) and a semiconductor chip (8). Thus, the electrical characteristics are prevented from being deteriorated.
L'invention porte sur un dispositif à semi-conducteurs, dans lequel une pulvérisation générée par un soudage au laser est empêchée d'adhérer à un motif de circuit et à une puce semi-conductrice et une détérioration de caractéristiques électriques est éliminée. L'invention porte également sur un procédé de fabrication d'un tel dispositif à semi-conducteurs. Un conducteur de connexion (14) est amené à adhérer avec une brasure (13) à une feuille de cuivre formée sur un matériau en céramique (4), et une résine (17a) est appliquée à un niveau inférieur à une surface supérieure (P) du corps de connexion (14) et un soudage au laser est effectué. Une pulvérisation (21) générée dans un soudage au laser en raison de l'application de la résine (17b) après soudage au laser est empêchée d'adhérer aux motifs de circuit (5, 6) et a une puce semi-conductrice (8). Ainsi, on empêche les caractéristiques électriques d'être détériorées. |
---|---|
Bibliography: | Application Number: WO2008JP72314 |