METHODS AND SYSTEMS FOR PROCESSING MICROSEISMIC DATA

Methods and systems for processing microseismic waveforms. The methods and systems provide determining a measure of waveform fit in the frequency-domain comprising constructing, in the frequency-domain, at least one of an amplitude misfit functional and a cross phase functional between arrivals; and...

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Main Author LEANEY, SCOTT, W
Format Patent
LanguageEnglish
French
Published 05.03.2009
Subjects
DETECTING MASSES OR OBJECTS
GEOPHYSICS
GRAVITATIONAL MEASUREMENTS
MEASURING
PHYSICS
TESTING
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Summary:Methods and systems for processing microseismic waveforms. The methods and systems provide determining a measure of waveform fit in the frequency-domain comprising constructing, in the frequency-domain, at least one of an amplitude misfit functional and a cross phase functional between arrivals; and estimating source parameters and/or model parameters. La présente invention a trait à des procédés et à des systèmes permettant de traiter des formes d'onde microsismiques. Les procédés et les systèmes comprennent les étapes consistant à : déterminer une mesure d'ajustement de forme d'onde dans le domaine fréquentiel ; construire, dans le domaine fréquentiel, une fonctionnelle inadaptée à l'amplitude et/ou une fonctionnelle de phase croisée entre les arrivés ; et estimer des paramètres de source et/ou des paramètres de modèle.
Bibliography:Application Number: WO2008IB01768