PLL BURN-IN CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT

• Main Authors: NAKATSUKA, JUNJI, YAMADA, YUJI, KINOSHITA, MASAYOSHI, SOGAWA, KAZUAKI
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 03.07.2008
• Subjects: AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATIONOF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES; BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY; ELECTRICITY

In a PLL not incorporating a loop filter, an added circuit for performing burn-in test to a voltage controlled oscillator with a suitable oscillation frequency is configured with a small number of circuits. To a gate terminal of a voltage-current conversion transistor (11) in a voltage controlled oscillator (10), a gate of a diode-connected transistor (13) is connected through a switch (12a). The gate has a polarity same as that of the transistor (11). A current source (14) is connected to a drain terminal of the transistor (13), and a value of a current supplied by the current source (14) and the size ratio of the transistor (11) to the transistor (13) are suitably adjusted. Thus, a current required for performing burn-in test to the ring oscillator in the voltage controlled oscillator (10) is supplied. Selon l'invention, dans une PLL ne comportant pas de filtre à boucle, un circuit ajouté pour exécuter un essai de fiabilisation sur un oscillateur commandé en tension avec une fréquence d'oscillation appropriée, est conçu avec un petit nombre de circuits. Vers un terminal de grille d'un transistor de conversion tension-courant (11) dans un oscillateur commandé en tension (10), une grille d'un transistor connecté en diode (13) est connectée par le biais d'un commutateur (12a). La grille a une polarité identique à celle du transistor (11). Une source de courant (14) est connectée à un terminal de drain du transistor (13), et une valeur d'un courant fourni par la source de courant (14) ainsi que le rapport de dimension du transistor (10) par rapport au transistor (13) sont correctement réglés. Ainsi, un courant nécessaire pour exécuter un essai de fiabilisation à l'oscillateur en anneau dans l'oscillateur commandé en tension (10) est fourni.