CONTACT FOR INSPECTING SUBSTRATE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE CONTACT

• Main Authors: KATO, MINORU, YAMAMOTO, MASAMI, NUMATA, KIYOSHI
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 18.10.2007
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

An inspection jig is composed of a plurality of contacts and a holding body for holding the contacts. The contact is composed of a long first conductive section having flexibility and conductivity, and a cylindrical second conductive section which stores the first conductive section inside and has flexibility and conductivity. The holding body is provided with a first holding hole for guiding one end of the contact to a prescribed inspection point, and a second holding hole for guiding the other end of the contact to an electrode section of an inspection apparatus. The first conductive section is provided with at least one elastic section which extends and retracts in one longitudinal direction. The elastic section is arranged in the first holding hole and/or in the second holding hole. Gabarit d'inspection comportant une pluralité de contacts et un corps de maintien servant à maintenir les contacts. Chaque contact est constitué d'une première partie conductrice souple et longue et d'une deuxième partie conductrice cylindrique souple recevant la première partie cylindrique. Le corps de maintien est pourvu d'un premier trou de maintien servant à guider une extrémité du contact jusqu'à un point d'inspection déterminé, et d'un deuxième trou de maintien servant à guider l'autre extrémité du contact jusqu'à une partie d'électrode d'un appareil d'inspection. La première partie conductrice est pourvue d'au moins une partie élastique qui s'avance et se retire dans une direction longitudinale. La partie élastique est disposée dans le premier trou de maintien et/ou le deuxième trou de maintien.