CHIP FOR SURFACE PLASMON RESONANCE SENSOR AND SURFACE PLASMON RESONANCE SENSOR

• Main Authors: NAKAMURA, MEGUMI, AOYAMA, SHIGERU, MATSUSHITA, TOMOHIKO, YAMASHITA, HIDEYUKI, NISHIKAWA, TAKEO, HASUI, RYOSUKE
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 20.09.2007
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

A metal layer (13) of Au or the like, is formed on the upper surface of a transparent substrate (12). Dielectric layers (14a, 14b, 14c) having different thicknesses (provided that the thickness of one of the dielectric layers may be zero) are formed on the upper surface of the metal layer (13) to constitute measurement regions (15a, 15b, 15c). A different kind of antibody (22a, 22b, 22c) is fixed to the upper surface of each dielectric layer (14a, 14b, 14c). Each measurement region (15a, 15b, 15c) is irradiated with light and reflected light is received, and then a signal obtained through spectroscopy is analyzed, thus detecting the surface state of each measurement region simultaneously. La présente invention concerne une couche métallique (13) d'Au, ou autre élément semblable, formée sur la surface supérieure d'un substrat transparent (12). Des couches diélectriques (14a, 14b, 14c) présentant des épaisseurs différentes (à condition que l'épaisseur de l'une des couches diélectriques puisse être égale à zéro) sont formées sur la surface supérieure de la couche métallique (13) afin de constituer des zones de mesure (15a, 15b, 15c). Un autre type d'anticorps (22a, 22b, 22c) est fixé à la surface supérieure de chaque couche diélectrique (14a, 14b, 14c). Chaque zone de mesure (15a, 15b, 15c) est exposée à la lumière et la lumière réfléchie est reçue, puis un signal obtenu par spectroscopie est analysé, ce qui permet de détecter simultanément l'état de la surface de chaque zone de mesure.