METHOF FOR CONTROLLING SYNCHROTRON GRAZING INCIDENCE X-RAY SCATTERING APPARATUS

• Main Authors: LEE, BYEONG-DU, YOON, JIN-HWAN, JIN, KYEONG-SIK, REE, MOON-HOR, HOE, KYU-YOUNG, JIN, SANG-WOO
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 12.07.2007
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

For easy control of the temperature of a sample as well as for precise control of an incident angle of a synchrotron X-ray beam, the present invention provides a method for controlling a synchrotron grazing incidence X-ray scattering apparatus, which comprises a step initializing a sample control section and a temperature control section; a step of aligning a vacuum sample chamber by driving a stepping motor drive of the sample control section, a step of compensating the incident angle of the synchrotron X-ray beam with respect to the sample by driving the goniometer drive of the sample control section, and a step of controlling the temperature of a sample stage where the sample is seated by controlling the temperature control section. L'invention concerne un procédé de commande d'un appareil de diffusion de rayons X synchrotron à incidence rasante, permettant de régler facilement la température d'un échantillon, ainsi que de régler avec précision un angle incident d'un faisceau de rayons X synchrotron à incidence rasante. Ledit procédé consiste à activer un dispositif de réglage d'échantillon et un dispositif de réglage de la température, à aligner une chambre à échantillon sous vide par commande d'un entraînement de moteur pas à pas du dispositif de réglage de l'échantillon, à compenser l'angle incident du faisceau de rayons X synchrotron par rapport à l'échantillon par commande de l'entraînement du goniomètre du dispositif de réglage de l'échantillon, et à régler la température d'un étage d'échantillon dans lequel est positionné l'échantillon par commande de la section de réglage de la température.