IC CARD PROCESSOR

• Main Authors: TAKAHASHI, KAZUNORI, HIRASAWA, KENJI, MUTOU, AKIRA, KOYAMA, FUMIHIRO, CHONABAYASHI, KOJI
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 05.04.2007
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; HANDLING RECORD CARRIERS; PHYSICS; PRESENTATION OF DATA; RECOGNITION OF DATA; RECORD CARRIERS

An IC card processor is provided with inserting ports (3a, 3b) for inserting an IC card (10); guide paths (4a, 4b) for guiding the IC card (10); an IC contact group (6) arranged on an opposite side to the inserting ports (3a, 3b) of the guide paths (4a, 4b) to be brought into contact with an IC contact section of the IC card (10); and a holding section (7) which can hold the IC card (10) in a curved status and an uncurved status and holds the IC contact section in contact with the IC contact group (6). Failures of the IC card itself due to disconnection, conduction failure, and the like, in the IC chip section of the IC card (10) are judged by the IC card processor. The processor (1) may be further provided with an inspecting section (8) for judging whether communication or information read/write is possible in the curved status or uncurved status by bringing the IC contact group (6) into contact with the contact section. L'invention concerne un processeur de carte à puce pourvu de ports d'insertion (3a, 3b) destinés à insérer une carte à puce (10) ; de chemins de guidage (4a, 4b) destinés à guider la carte à puce (10) ; d'un groupe de contacts de puce (6) agencé sur un côté opposé aux ports d'insertion (3a, 3b) des chemins de guidage (4a, 4b) pour être mis en contact avec une section de contact de puce de la carte à puce (10) ; et d'une section de maintien (7) qui peut maintenir la carte à puce (10) dans un état courbé et un état non courbé et maintient la section de contact de puce en contact avec le groupe de contacts de puce (6). Des défaillances de la carte à puce elle-même dues à une déconnexion, une défaillance de conduction et similaires, dans la section de puce de la carte à puce (10) sont évaluées par le processeur de carte à puce. Le processeur (1) peut être en outre pourvu d'une section d'inspection (8) pour évaluer si une lecture/écriture d'information ou de communication est possible dans l'état courbé ou l'état non courbé en mettant le groupe de contacts de puce (6) en contact avec la section de contact.