MARK ARRANGEMENT MEASURING METHOD, POSITIONAL POSTURE ESTIMATING METHOD, MARK ARRANGEMENT MEASURING APPARATUS AND POSITIONAL POSTURE ESTIMATING APPARATUS

• Main Authors: UCHIYAMA, SHINJI, TAKEMOTO, RIKA
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 10.08.2006
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; PHYSICS; TESTING

To measure a relative arrangement relationship between marks by picking up images of a plurality of marks in an actual space by an image pickup device, an arrangement relationship between a mark included in a first image and a mark included in a second image is obtained by using arrangement relationships which are; an arrangement relationship between a common mark, which is commonly included in the first image and the second image and is temporarily arranged in the actual space, and a mark included in the first image; and an arrangement relationship between the common mark and a mark included in the second image. L'invention permet de mesurer une relation de disposition relative entre différentes marques en saisissant des images d'une pluralité de marques dans un espace réel grâce à un dispositif de détection d'image. Pour ce faire, une relation de disposition entre une marque incluse dans une première image et une marque incluse dans une seconde image s'obtient à l'aide des relations de disposition suivantes : une relation de disposition entre une marque commune, incluse communément dans la première image et la seconde image, et disposée temporairement dans l'espace réel, et une marque incluse dans la première image; et une relation de disposition entre la marque commune et une marque incluse dans la seconde image.