TOTAL INTERNAL REFLECTANCE FLUORESCENCE (TIRF) MICROSCOPE

• Main Author: FERENCZI, MICHAEL, ALAN
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 11.05.2006
• Subjects: APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM]; MEASURING; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHYSICS; SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; TESTING

A total internal reflection fluorescent (TIRF) microscope has a conjugate lens (30) which is positioned off of the primary microscope axis (AA). The lens (30) is held by a mount (60) allowing the radial spacing between the microscope axis (AA) and the conjugate lens axis (BB) to be varied. The mount (60) also allows the lens to be rotated around the microscope axis. As the lens (30) rotates, the spot of light (64) created by the incident laser beam moves around the periphery of the objective lens (34). This changes the direction of polarisation of the evanescent wave within which the sample (44) sits. By studying the emitted fluorescence as a function of lens angle, information is provided about the spatial attitude of a molecule under study. L'invention se rapporte à un microscope à fluorescence par réflexion interne totale (TIRF) qui comporte une lentille conjuguée (30) placée en dehors de l'axe principal (AA) du microscope. La lentille (30) est maintenue par un support (60) permettant de faire varier l'espacement radial entre l'axe (AA) du microscope et l'axe (BB) de la lentille conjuguée. Le support (60) permet également de faire tourner la lentille autour de l'axe du microscope. Lorsque la lentille (30) tourne, la tache de lumière (64) créée par le faisceau laser incident se déplace autour de la périphérie de la lentille (34) de l'objectif. Ceci modifie le sens de polarisation de l'onde évanescente à l'intérieur de laquelle réside l'échantillon (44). En étudiant la fluorescence émise en fonction de l'angle de la lentille, on obtient des informations sur la position dans l'espace d'une molécule étudiée.