ELLIPSOMETRIC BIOSENSOR COMPRISING AN AMPLIFICATION LAYER

• Main Authors: EDLINGER, JOHANNES, HOENIG, DIRK, WIKI, MAX, EING, ANDREAS
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 15.09.2005
• Edition: 7
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

A method for analyzing organic adsorbent layers (7) on a substrate (4) comprises the steps of providing a substrate (4) whose surface has an index of refraction equal or close to the index of refraction of the organic adsorbent to be analyzed. On the surface of the substrate (4) there is applied a layer system (5, 6) with at least one layer (5) with index of refraction of the biological material and an organic adsorbent layer (7) on top of the layer system. When acting polarized light upon the substrate a change of polarization characteristics in reflection and/or transmission is detected. Cette invention se rapporte à un procédé qui sert à analyser des couches d'adsorbant organique (7) sur un substrat (4) et qui consiste à cet effet à former un substrat (4) dont la surface présente un indice de réfraction égal ou proche de l'indice de réfraction de l'absorbant organique devant être analysé. Sur la surface de ce substrat (4) on applique un système de couches (5, 6) dont au moins une couche (5) possède l'indice de réfraction du matériau biologique et dont au moins une couche d'absorbant organique (7) est placée au-dessus de ce système de couches. Lorsqu'on applique un rayonnement lumineux polarisé sur le substrat, on détecte une variation des caractéristiques de polarisation en réflexion et/ou en transmission.