METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING EXPOSURE OF A SEMICONDUCTOR CIRCUIT TO ULTRA-VIOLET LIGHT
A method and apparatus are disclosed for detecting if a semiconductor circuit (100) has been exposed to ultra-violet light. An ultra-violet light detection circuit (200) detects exposure to ultra-violet light and will automatically activate a security violation signal. The security violation signal...
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Format | Patent |
Language | English French |
Published |
13.10.2005
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Edition | 7 |
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Summary: | A method and apparatus are disclosed for detecting if a semiconductor circuit (100) has been exposed to ultra-violet light. An ultra-violet light detection circuit (200) detects exposure to ultra-violet light and will automatically activate a security violation signal. The security violation signal may optionally initiate a routine to clear sensitive data from memory (140) or prevent the semiconductor circuit from further operation. The ultra-violet light detection circuit detects whether a semiconductor circuit has been exposed to ultra-violet light, for example, by employing a dedicated mini-array of non-volatile memory cells. At least two active bit lines, blprg and bler, are employed corresponding to program and erase, respectively. One of the bit lines is only programmable and the other bit line is only eraseable. Generally, all of the bits in the dedicated non-volatile memory array are initially in approximately the same state, which could be erased, programmed or somewhere in between. An offset current is added to one bit line and a change in the resulting current difference is used to detect an exposure to ultra-violet light.
L'invention porte sur un procédé et sur un appareil permettant de détecter si un circuit à semi-conducteurs a été exposé à la lumière ultraviolette. Un circuit de détection de la lumière ultraviolette détecte l'exposition à la lumière ultraviolette et active automatiquement un signal de violation de sécurité. Le signal de violation de sécurité peut éventuellement déclencher un programme pour supprimer les données sensibles de la mémoire ou empêcher le circuit à semi-conducteurs d'exécuter une autre opération. Le circuit de détection détecte si un circuit à semi-conducteurs a été exposé à la lumière ultraviolette, par exemple, en utilisant un mini tableau spécialisé de cellules de mémoire rémanente. Au moins deux lignes de bits actives, blprg et bler, utilisées correspondent au programme et à l'effacement. L'une des lignes de bits est uniquement programmable et l'autre uniquement effaçable. Généralement, tous les bits du tableau spécialisé de la mémoire rémanente, initialement approximativement dans le même état, pourraient être effacés, programmés ou être quelque part dans des intervalles. Un courant de décalage est ajouté à une ligne de bits et une variation dans la différence de courant obtenue est utilisée pour détecter une exposition à la lumière ultraviolette. |
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Bibliography: | Application Number: WO2004US06202 |