BOUNDARY SCAN CIRCUIT WITH INTEGRATED SENSOR FOR SENSING PHYSICAL OPERATING PARAMETERS

• Main Authors: DE JONG, FRANCISCUS, G., M, SCHUTTERT, RODGER, F
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 12.08.2004
• Edition: 7
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

An integrated circuit device has boundary scan structure with a test shift register structure coupled between a test input (TDI) and the test output (TDO). The test register structure is used to shift information from the test input to a test output. Test data is transported from the input to the output by shifting. The test shift register structure contains a data shift part (106) coupled to connections (12) for a functional circuit under test. In parallel with the data shift part is an instruction shift structure (102, 104). By means of test control signals it is controlled whether instruction information travels from the test input to the test output through the instruction shift part or whether data travels from the test input to the test output through the data shift part. Instruction information from the instruction shift part controls operation of the device in a test mode. A sensor (14) is provided for sensing a physical operating parameter of the device. The sensor has an output (18) coupled to the shift register structure (102) for feeding a sensing result to the test output from the instruction shift part. This form of making a sensing result accessible is preferably applied to a parameter whose value is indicative of a risk of damage to the device, such as temperature. This makes it possible to detect threatening parameter values quickly. L'invention concerne un dispositif de circuit intégré présentant une structure de balayage de limite avec une structure de registre de décalage d'essai couplée entre une entrée d'essai (TDI) et la sortie d'essai (TDO). La structure de registre d'essai est utilisée pour déplacer des informations de l'entrée d'essai à la sortie d'essai. Des données d'essai sont acheminées de l'entrée à la sortie par le biais d'un décalage. Cette structure de registre de décalage d'essai contient une partie de décalage de données (106) couplée aux connexions (12) pour circuit fonctionnel à l'essai. Parallèlement à la partie de décalage de données, se trouve une structure de décalage d'instruction (102, 104). Des signaux de commande d'essai permettent de vérifier si des informations d'instruction vont de l'entrée d'essai à la sortie d'essai et passent par la partie de décalage d'instruction ou si des données vont de l'entrée d'essai à la sortie d'essai et passent par la partie de décalage de données. Des informations d'instruction provenant de la partie de décalage d'instruction permettent de commander le fonctionnement du dispositif en mode d'essai. Un détecteur (14) sert à détecter un paramètre de fonctionnement physique du dispositif. Ledit détecteur présente une sortie (18) couplée à la structure de registre de décalage (102) de manière à acheminer un résultat de détection jusqu'à la sortie d'essai à partir de la partie de décalage d'instruction. Cette forme qui permet de rendre accessible un résultat de détection est, de préférence, appliquée à un paramètre, dont la valeur indique un risque de dommage au niveau du dispositif, tel que celui provoqué par la température. Ceci permet de détecter rapidement des valeurs de paramètres menaçants.