METHOD AND DEVICE FOR THE POLARIMETRIC ANALYSIS OF THE THREE-DIMENSIONAL INFRARED SCATTERING FROM AN OBJECT USING A PARABOLIC MIRROR ASSEMBLY

• Main Authors: LANTERNIER, THOMAS, MAINGUY, STEPHANE
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 06.05.2004
• Edition: 7
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

The invention relates to a method and a device for the polarimetric analysis of the three-dimensional infrared scattering from an object using a parabolic mirror assembly. The object (2) is illuminated by incident infrared radiation (32) by means of the mirror (30) using a determined angle of incidence. The mirror reflects the radiation towards the object as well as the radiation (36) scattered by said object. The inventive method consists in measuring the radiation scattered along a determined scattering angle and varying the scattering angle and, optionally, the angle of incidence. According to the invention, the incident radiation and scattered radiation are polarised and, in order to analyse the three-dimensional infrared scattering from the object, the polarisations are also varied. The scattered radiation is measured according to the values of the incident radiation polarisation, the scattered radiation polarisation, the scattering angle and, optionally, the angle of incidence, and the measurements are processed in order to obtain the desired properties of the object. The invention is particularly suitable for characterising materials. Procédé et dispositif d'analyse Polarimétrique de la diffusion infrarouge tridimentionnelle d'un objet au moyen d'un montage à miroir parabolique. L'obet (2) est éclairé par un rayonnement infrarouge incident (32), par l'intermédiaire du miroir (30), suivant angle d'incidence déterminé. Ce miroir réfléchit le rayonnement vers l'objet ainsi que le rayonnement (36) diffusé par ce dernier. On mesure le rayonnement diffusé suivant un angle de diffusion déterminé et l'on fait varier l'angle de diffusion et éventuellement l'angle d'incidence. Selon l'invention, on polarise les rayonnements incident et diffusé et, pour analyser la diffusion infrarouge tridimensionnelle de l'objet, on fait en outre varier leurs polarisations, on mesure le rayonnement diffusé, en fonction des valeurs de la polarisation du rayonnement incident, de la polarisation du rayonnement diffusé, de l'angle de diffusion et éventuellement de l'angle d'incidence et l'on traite les mesures pour obtenir des propriétés recherchées de l'objet. L'invention s'applique notamment à la caractérisation de matériaux.