INSPECTING APPARATUS AND INSPECTING METHOD FOR CIRCUIT BOARD

An inspecting apparatus and an inspecting method which enable the high-speed inspection of a circuit board. An LCD driver module (100) that is an inspection object has a mounted PDP-driving LSI (110). A circuit wiring (111) is connected to its terminal. An inspecting apparatus (1) outputs an LSI dri...

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Main Authors ISHIOKA, SHOGO, YAMAOKA, SHUJI
Format Patent
LanguageEnglish
French
Japanese
Published 23.05.2002
Edition7
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Summary:An inspecting apparatus and an inspecting method which enable the high-speed inspection of a circuit board. An LCD driver module (100) that is an inspection object has a mounted PDP-driving LSI (110). A circuit wiring (111) is connected to its terminal. An inspecting apparatus (1) outputs an LSI drive signal to an input terminal (113) of the LSI (110). A sensor (2) is arranged contactlessly at the position opposite to the circuit wiring (111) and senses a voltage value occurring on the circuit wwiring (111) by driving the LSI (110), and the sense signal is analyzed by the inspecting apparatus (1). Appareil et procédé d'inspection permettant d'inspecter rapidement une carte de circuit. Un module de commande à cristaux liquides (100) qui représente l'objet à inspecter comprend un circuit LSI (110) de commande du circuit PDP. Un câblage de circuit (111) est connecté à sa borne. Un appareil d'inspection (1) assure la sortie d'un signal de commande LSI sur une borne d'entrée (113) du LSI (110). Un capteur (2) est monté sans contact dans une position opposée au câblage de circuit (111) et détecte une valeur de tension dans le câblage de circuit (111) en commandant le LSI (110); le signal de détection est analysé par l'appareil d'inspection (1).
Bibliography:Application Number: WO2001JP09992