PLASMA RIE POLYMER REMOVAL

A method for removal of post reactive ion etch by-product from a semiconductor wafer surface or microelectronic composite structure comprising:supplying a reducing gas plasma incorporating a forming gas mixture selected from the group consisting of a mixture of N2/H2 or a mixture of NH3/H2 into a va...

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Main Authors JAHNES, CHRISTOPHER, VINCENT, TIMOTHY, DALTON, COWLEY, ANDY, EMMI, PETER
Format Patent
LanguageEnglish
French
Published 24.01.2002
Edition7
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Summary:A method for removal of post reactive ion etch by-product from a semiconductor wafer surface or microelectronic composite structure comprising:supplying a reducing gas plasma incorporating a forming gas mixture selected from the group consisting of a mixture of N2/H2 or a mixture of NH3/H2 into a vacuum chamber in which a semiconductor wafer surface or a microelectronic composite structure is supported to form a post-RIE polymer material by-product on the composite structure without significant removal of an organic, low K material which has also been exposed to the reducing gas plasma; and removing the post-RIE polymer material by-product with a wet clean. L'invention concerne un procédé d'enlèvement du sous-produit résultant de la réaction de gravure ionique sur une surface de plaquette de semiconducteur ou sur une structure composite micro-électronique. Ce procédé consiste : à apporter un plasma de gaz réducteur à base d'un mélange de gaz formateurs, tels que N2/H2 ou NH3/H2 dans une chambre à dépression dans laquelle la surface de plaquette de semiconducteur ou la structure composite micro-électronique est placée en vue de la formation dudit sous-produit de réaction sur une structure composite sans enlèvement notable d'un matériau organique à faible coefficient k qui a également été exposé au plasma du gaz réducteur. Le procédé se termine par l'enlèvement dudit sous-produit par lavage.
Bibliography:Application Number: WO2001US20184