ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATING SOURCE PROBING DEVICE, METHOD THEREFOR AND ANALYZING METHOD THEREFOR

An electromagnetic wave generating source probing device capable of probing and identifying, with a high accuracy and at a high speed, a generating source (of an electromagnetic disturbing wave) mainly causing an electromagnetic field generated remote from the device, and a method therefor, and an e...

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Main Authors SHINBO, KENICHI, UESAKA, KOUICHI
Format Patent
LanguageEnglish
French
Japanese
Published 02.11.2000
Edition7
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Abstract An electromagnetic wave generating source probing device capable of probing and identifying, with a high accuracy and at a high speed, a generating source (of an electromagnetic disturbing wave) mainly causing an electromagnetic field generated remote from the device, and a method therefor, and an electromagnetic wave generating source analyzing system and a method therefor. The probing method is characterized in that a magnetic field near an object of measurement (110) is measured by at least two probe sets (101, 102), the position of an electromagnetic wave generating source is probed using a simple calculation consisting of one function of a phase difference between the two probes, a simultaneous equation including this position information and the magnitude of the measured magnetic field is solved to determine a current distribution of the object of measurement, and an electromagnetic field remote from the device is determined by calculation from the current distribution to thereby identify a generating source mainly causing an electromagnetic field generated remote from the device. L'invention concerne un dispositif et un procédé de sondage pour la recherche de source d'ondes électromagnétiques, capable de rechercher par sondage et d'identifier avec une grande précision et à grande vitesse, une source (d'onde électromagnétique perturbatrice) créant généralement un champ électromagnétique loin du dispositif. L'invention porte sur un système et sur un procédé d'analyse de source d'ondes électromagnétiques. Le procédé de sondage se caractérise en ce qu'un champ magnétique proche d'un objet de mesure (110) est mesuré par au moins deux ensembles sondes (101, 102), en ce que la position d'une source d'ondes électromagnétiques est mesurée par un simple calcul consistant en une fonction de différence de phase entre les deux sondes, en ce qu'une équation simultanée comprenant cette information de position et l'ampleur du champ magnétique, est résolue pour la détermination d'une répartition ponctuelle de l'objet de la mesure, et en ce qu'un champ magnétique éloigné du dispositif est déterminé par un calcul basé sur la répartition ponctuelle et l'identification d'une source génératrice induisant principalement un champ électromagnétique loin du dispositif.
AbstractList An electromagnetic wave generating source probing device capable of probing and identifying, with a high accuracy and at a high speed, a generating source (of an electromagnetic disturbing wave) mainly causing an electromagnetic field generated remote from the device, and a method therefor, and an electromagnetic wave generating source analyzing system and a method therefor. The probing method is characterized in that a magnetic field near an object of measurement (110) is measured by at least two probe sets (101, 102), the position of an electromagnetic wave generating source is probed using a simple calculation consisting of one function of a phase difference between the two probes, a simultaneous equation including this position information and the magnitude of the measured magnetic field is solved to determine a current distribution of the object of measurement, and an electromagnetic field remote from the device is determined by calculation from the current distribution to thereby identify a generating source mainly causing an electromagnetic field generated remote from the device. L'invention concerne un dispositif et un procédé de sondage pour la recherche de source d'ondes électromagnétiques, capable de rechercher par sondage et d'identifier avec une grande précision et à grande vitesse, une source (d'onde électromagnétique perturbatrice) créant généralement un champ électromagnétique loin du dispositif. L'invention porte sur un système et sur un procédé d'analyse de source d'ondes électromagnétiques. Le procédé de sondage se caractérise en ce qu'un champ magnétique proche d'un objet de mesure (110) est mesuré par au moins deux ensembles sondes (101, 102), en ce que la position d'une source d'ondes électromagnétiques est mesurée par un simple calcul consistant en une fonction de différence de phase entre les deux sondes, en ce qu'une équation simultanée comprenant cette information de position et l'ampleur du champ magnétique, est résolue pour la détermination d'une répartition ponctuelle de l'objet de la mesure, et en ce qu'un champ magnétique éloigné du dispositif est déterminé par un calcul basé sur la répartition ponctuelle et l'identification d'une source génératrice induisant principalement un champ électromagnétique loin du dispositif.
Author UESAKA, KOUICHI
SHINBO, KENICHI
Author_xml – fullname: SHINBO, KENICHI
– fullname: UESAKA, KOUICHI
BookMark eNrjYmDJy89L5WRIcfVxdQ4J8vd1dPdzDfF0Vgh3DHNVcHf1cw1yDPH0c1cI9g8NcnZVCAjydwJxXVzDPJ1ddRR8XUM8_F0UQjxcg1zd_IMUHP1cgNjRJzIKpApNloeBNS0xpziVF0pzMyi4uYY4e-imFuTHpxYXJCan5qWWxIf7GxiYmRqbGTkaGhOhBABJXDYK
ContentType Patent
DBID EVB
DatabaseName esp@cenet
DatabaseTitleList
Database_xml – sequence: 1
  dbid: EVB
  name: esp@cenet
  url: http://worldwide.espacenet.com/singleLineSearch?locale=en_EP
  sourceTypes: Open Access Repository
DeliveryMethod fulltext_linktorsrc
Discipline Medicine
Chemistry
Sciences
Physics
DocumentTitleAlternate DISPOSITIF ET PROCEDE DE SONDAGE POUR LA RECHERCHE DE SOURCE D'ONDES ELECTROMAGNETIQUES, ET PROCEDE D'ANALYSE ASSOCIE
Edition 7
ExternalDocumentID WO0065362A1
GroupedDBID EVB
ID FETCH-epo_espacenet_WO0065362A13
IEDL.DBID EVB
IngestDate Fri Jul 19 15:16:15 EDT 2024
IsOpenAccess true
IsPeerReviewed false
IsScholarly false
Language English
French
Japanese
LinkModel DirectLink
MergedId FETCHMERGED-epo_espacenet_WO0065362A13
Notes Application Number: WO2000JP02623
OpenAccessLink https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20001102&DB=EPODOC&CC=WO&NR=0065362A1
ParticipantIDs epo_espacenet_WO0065362A1
PublicationCentury 2000
PublicationDate 20001102
PublicationDateYYYYMMDD 2000-11-02
PublicationDate_xml – month: 11
  year: 2000
  text: 20001102
  day: 02
PublicationDecade 2000
PublicationYear 2000
RelatedCompanies HITACHI, LTD
RelatedCompanies_xml – name: HITACHI, LTD
Score 2.6198206
Snippet An electromagnetic wave generating source probing device capable of probing and identifying, with a high accuracy and at a high speed, a generating source (of...
SourceID epo
SourceType Open Access Repository
SubjectTerms MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
Title ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATING SOURCE PROBING DEVICE, METHOD THEREFOR AND ANALYZING METHOD THEREFOR
URI https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20001102&DB=EPODOC&locale=&CC=WO&NR=0065362A1
hasFullText 1
inHoldings 1
isFullTextHit
isPrint
link http://utb.summon.serialssolutions.com/2.0.0/link/0/eLvHCXMwfV3NT8IwFH8h-HlT1Ihf6cHs5CIbo8qBmNEVhmErmeNDL2TttgQPQNyM_75dBTQmeuihfU3TvuT19bW_9yvAdRxji6e4pqeRIXTrPsV6xGtyMxT1KLaiZiIUl57nY3doPU4akxLM1rkwiif0Q5EjSosS0t5ztV8vvy-xHIWtzG75TDYtHjphy9HW0XHhzUzNabfogDmMaITIuE3zg5biYMWmLQOlLXmKvivQX3TULpJSlj89SucAtgdysHl-CKXXqAJ7ZP3xWgV2vdV7dwV2FEBTZLJxZYTZEcS0T0kYMM_u-jTsETS2RxR9YdDCnt9FT2wYEIoGAWsXVYeOeoTeII-GLnNQ6NKAytgP2b4ji91_fil6_ZIeA-rQkLi6nPh0o6TpmG2WWD-B8nwxT04BccHjqCAVw01hpbwRJaaRcnnGEIbB6xxXofrnMGf_yM5hX-WkF_er5gWU87f35FJ655xfKb1-Avo4jOk
link.rule.ids 230,309,783,888,25578,76884
linkProvider European Patent Office
linkToHtml http://utb.summon.serialssolutions.com/2.0.0/link/0/eLvHCXMwfV3LT8IwGP9C8IE3RY347MHs5CIbY4EDMaMrbLoHmeWhF7J2W4IHIDLjv29XQY2JHnroI1_aJt-z3_crwHWSmAbLzLqaxRpXjVZmqjGrC2HIG3FixO2USyw9PzCdoXE_aU5KMNvUwkic0HcJjig4igt-z6W8Xn4HsWyZW7m6ZTMxtLjr0Y6tbLzjQpvpit3tkEFoh1jBWPhtShB1JAarqVvCUdoSFnargNkno25RlLL8qVF6-7A9EMTm-QGUXuIqVPDm47Uq7Prr9-4q7MgETb4Sg2smXB1CQjyCaRT6Vj8g1MVobI0I-sxBo27QR4_hMMIEDaKwW3RtMnIxuUE-oU5oI-qQiAjfD1mBLZrlPT0Xq37NHgHqEYodVWx8-nVJ03H4dcTGMZTni3l6AohxlsQFqJjZ5kbGmnGqaxkTNgbXNNZgZg1qf5I5_WfuCioO9b2p5wYPZ7An69OLWKt-DuX89S29EJo6Z5fyjj8Av2uP2Q
openUrl ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info%3Aofi%2Fenc%3AUTF-8&rfr_id=info%3Asid%2Fsummon.serialssolutions.com&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Apatent&rft.title=ELECTROMAGNETIC+WAVE+GENERATING+SOURCE+PROBING+DEVICE%2C+METHOD+THEREFOR+AND+ANALYZING+METHOD+THEREFOR&rft.inventor=SHINBO%2C+KENICHI&rft.inventor=UESAKA%2C+KOUICHI&rft.date=2000-11-02&rft.externalDBID=A1&rft.externalDocID=WO0065362A1