ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATING SOURCE PROBING DEVICE, METHOD THEREFOR AND ANALYZING METHOD THEREFOR

• Main Authors: SHINBO, KENICHI, UESAKA, KOUICHI
• Format: Patent
• Language: English; French; Japanese
• Published: 02.11.2000
• Edition: 7
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

An electromagnetic wave generating source probing device capable of probing and identifying, with a high accuracy and at a high speed, a generating source (of an electromagnetic disturbing wave) mainly causing an electromagnetic field generated remote from the device, and a method therefor, and an electromagnetic wave generating source analyzing system and a method therefor. The probing method is characterized in that a magnetic field near an object of measurement (110) is measured by at least two probe sets (101, 102), the position of an electromagnetic wave generating source is probed using a simple calculation consisting of one function of a phase difference between the two probes, a simultaneous equation including this position information and the magnitude of the measured magnetic field is solved to determine a current distribution of the object of measurement, and an electromagnetic field remote from the device is determined by calculation from the current distribution to thereby identify a generating source mainly causing an electromagnetic field generated remote from the device. L'invention concerne un dispositif et un procédé de sondage pour la recherche de source d'ondes électromagnétiques, capable de rechercher par sondage et d'identifier avec une grande précision et à grande vitesse, une source (d'onde électromagnétique perturbatrice) créant généralement un champ électromagnétique loin du dispositif. L'invention porte sur un système et sur un procédé d'analyse de source d'ondes électromagnétiques. Le procédé de sondage se caractérise en ce qu'un champ magnétique proche d'un objet de mesure (110) est mesuré par au moins deux ensembles sondes (101, 102), en ce que la position d'une source d'ondes électromagnétiques est mesurée par un simple calcul consistant en une fonction de différence de phase entre les deux sondes, en ce qu'une équation simultanée comprenant cette information de position et l'ampleur du champ magnétique, est résolue pour la détermination d'une répartition ponctuelle de l'objet de la mesure, et en ce qu'un champ magnétique éloigné du dispositif est déterminé par un calcul basé sur la répartition ponctuelle et l'identification d'une source génératrice induisant principalement un champ électromagnétique loin du dispositif.