APPARATUS CONFIGURED FOR IDENTIFICATION OF A MATERIAL AND METHOD OF IDENTIFYING A MATERIAL

The present invention relates to an apparatus configured for identification of a material and method of identifying a material. One embodiment of the present invention provides an apparatus configured to include a first region to receive a first sample (20) and output a first spectrum responsive to...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors SLATER, JOHN, M, CRAWFORD, THOMAS, M, FRICKEY, DEAN, A
Format Patent
LanguageEnglish
French
Published 19.10.2000
Edition7
Subjects
Online AccessGet full text

Cover

Loading…
More Information
Summary:The present invention relates to an apparatus configured for identification of a material and method of identifying a material. One embodiment of the present invention provides an apparatus configured to include a first region to receive a first sample (20) and output a first spectrum responsive to exposure of the first sample to radiation (13); a signal generator (42) configured to provide a reference signal having a reference frequency and a modulation signal having a modulation frequency; a modulator (22) configured to selectively modulate the first spectrum using the modulation signal according to the reference frequency; a second region (26) configured to receive a second sample and output a second spectrum responsive to exposure of the second sample to the first spectrum; and a detector (28) configured to detect the second spectrum. Cette invention concerne un dispositif d'identification de matériaux et son procédé. Selon un mode de réalisation de la présente invention, ce dispositif comprend : une première région conçue pour recevoir un premier échantillon et émettre un premier spectre en réponse à une exposition de ce premier échantillon à un rayonnement ; une génératrice de signaux émettant un signal de référence à une fréquence de référence et un signal de modulation assorti d'une fréquence de modulation ; un modulateur étudié pour moduler sélectivement le premier spectre au moyen du signal de modulation ; une seconde région conçue pour recevoir un second échantillon et produire un second spectre en réponse à l'exposition du second échantillon au premier spectre ; et un détecteur permettant de détecter le second spectre.
Bibliography:Application Number: WO1999US28573