PORTION OF PROBE

• Main Authors: YOKOYAMA, MAKOTO, AKAHIRA, MEGUMI, SEINO, YOJI, SAITOH, TOYOKAZU
• Format: Patent
• Language: Chinese; English
• Published: 01.04.2016

【物品用途】;本創作係有關於一種探針之部分，尤指一種用於半導體裝置或液晶面板的特性檢查、以及用於基板間或電子零件間等之電性連接的探針之部分。;【設計說明】;本創作提供了一種用於半導體裝置或液晶面板的特性檢查、以及用於基板間或電子零件間等之電性連接的探針之部分，各視圖中以實線表示的部分為本案欲主張設計之部分。另外，一點鏈線係用以界定本案欲主張設計之部分與其他部分之邊界的線，該一點鏈線本身為本案不主張設計之部分。各視圖之虛線部分為本案不主張設計之部分。另外，為使本案欲主張設計之部分的細部更為清楚，尚以欲主張設計之部分的局部放大前視圖、欲主張設計之部分的局部放大後視圖、欲主張設計之部分的局部放大俯視圖、欲主張設計之部分的局部放大仰視圖、欲主張設計之部分的局部放大右側視圖、欲主張設計之部分的局部放大左側視圖、欲主張設計之部分的局部放大立體圖1、欲主張設計之部分的局部放大立體圖2等各局部放大圖表示本案欲主張設計之部分。