METHOD FOR DETERMINATION OF LOCAL ETCHING TIME OF MONOCRYSTALLINE FERRITE PLATES

• Main Authors: Miljaeva L.O, Titova L.A, Shadrin A.D, Rozanov O.V, Spirin G.M, Detsik L.V
• Format: Patent
• Language: English; Russian
• Published: 27.08.1995
• Subjects: CHEMICAL SURFACE TREATMENT; CHEMISTRY; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; COATING METALLIC MATERIAL; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL; METALLURGY; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLICMATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASSC23 AND AT LEAST ONEPROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25; NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE

FIELD: magnetic recording. SUBSTANCE: method involves selecting three plates from batch of plates; conducting test etching of selected plates for three various periods of time, respectively; measuring working path width of selected plates upon termination of test etching; evaluating average arithmetic values of working path width of each plate among selected plates and calculating etching time for plates of this batch. EFFECT: increased yield of high-quality monocrystalline ferrite plates. Изобретение относится к магнитной записи и позволяет повысить выход годных монокристаллических ферритовых пластин по ширине рабочей дорожки. Способ заключается в том, что в процессе локального травления из партии пластин отбираются три представительные выборки, проводят пробное травление отобранных выборок соответственно в течение трех различных отрезков времени, измеряют ширину рабочей дорожки в отобранных выборках после пробного травления, определяют средние арифметические значения ширины рабочей дорожки в каждой из трех выборок и определяют по формуле время травления пластин данной партии.