METHOD FOR DETERMINATION OF LOCAL ETCHING TIME OF MONOCRYSTALLINE FERRITE PLATES
FIELD: magnetic recording. SUBSTANCE: method involves selecting three plates from batch of plates; conducting test etching of selected plates for three various periods of time, respectively; measuring working path width of selected plates upon termination of test etching; evaluating average arithmet...
Saved in:
Main Authors | , , , , , |
---|---|
Format | Patent |
Language | English Russian |
Published |
27.08.1995
|
Subjects | |
Online Access | Get full text |
Cover
Loading…
Summary: | FIELD: magnetic recording. SUBSTANCE: method involves selecting three plates from batch of plates; conducting test etching of selected plates for three various periods of time, respectively; measuring working path width of selected plates upon termination of test etching; evaluating average arithmetic values of working path width of each plate among selected plates and calculating etching time for plates of this batch. EFFECT: increased yield of high-quality monocrystalline ferrite plates.
Изобретение относится к магнитной записи и позволяет повысить выход годных монокристаллических ферритовых пластин по ширине рабочей дорожки. Способ заключается в том, что в процессе локального травления из партии пластин отбираются три представительные выборки, проводят пробное травление отобранных выборок соответственно в течение трех различных отрезков времени, измеряют ширину рабочей дорожки в отобранных выборках после пробного травления, определяют средние арифметические значения ширины рабочей дорожки в каждой из трех выборок и определяют по формуле время травления пластин данной партии. |
---|---|
Bibliography: | Application Number: SU19874192312 |