METHOD FOR FORMING IMAGE OF OBJECTS WITH SUBDIFFRACTION RESOLUTION IN MILLIMETRIC, TERAHERTZ, INFRARED AND OPTICAL RANGES OF WAVE LENGTHS

• Main Authors: Minin Oleg Vladilenovich, Minin Igor Vladilenovich
• Format: Patent
• Language: English; Russian
• Published: 15.09.2017
• Subjects: OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHYSICS

FIELD: physics.SUBSTANCE: method includes irradiating the forming system with the source of electromagnetic radiation, focusing the radiation by the forming system on the research object, receiving the reflected or transmitted radiation, converting the received radiation into electrical signals and forming the image of the observation object. In the radiation focusing area of the forming system, a meso-sized dielectric particle is placed, having a refractive index from 1. 2 to 1. 7 and a size of not more than the transverse dimension of the focusing area and not less than λ/2, where λ is the radiation wavelength. An area with an increased radiation intensity is created, having transverse dimensions of the order λ/3-λ/4 and a length of not more than 10λ on the outer boundary of the particle on the opposite side of the incident radiation. The research object is placed in the obtained area of increased intensity.EFFECT: increasing the resolution.2 dwg Изобретение относится к области получения изображений и касается способа формирования изображения объектов с субдифракционным разрешением в миллиметровом, терагерцевом, инфракрасном и оптическом диапазонах длин волн. Способ включает в себя облучение источником электромагнитного излучения формирующей системы, фокусировку излучения формирующей системой на объекте исследования, прием отраженного или прошедшего излучения, преобразование принятого излучения в электрические сигналы и формирование изображения объекта наблюдения. В области фокусировки излучения формирующей системы размещают мезоразмерную диэлектрическую частицу, имеющую коэффициент преломления от 1.2 до 1.7 и размер не более поперечного размера области фокусировки и не менее λ/2, где λ - длина волны излучения. Создают область с повышенной интенсивностью излучения с поперечными размерами порядка λ/3-λ/4 и протяженностью не более 10λ на внешней границе частицы с противоположной стороны от падающего излучения. Объект исследования размещают в полученной области повышенной интенсивности. Технический результат заключается в повышении разрешающей способности. 2 ил.