Method of forming and positioning brittle gels samples used to determine the dynamic modulus of elasticity and the research position to determine these modules

Sposób formowania i pozycjonowania próbek żeli kruchych, zwłaszcza żeli krzemianowych, używanych do wyznaczania ich dynamicznych modułów sprężystości, charakteryzuje się tym, że do wnętrza wykrojnika (5) wprowadza się, przy podciśnieniu wynoszącym od 2% do 5% bezwzględnego ciśnienia atmosferycznego,...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors FALKOWICZ SŁAWOMIR, MROCZKOWSKA-SZERSZEŃ MAJA, CICHA-SZOT RENATA
Format Patent
LanguageEnglish
Polish
Published 31.05.2017
Subjects
Online AccessGet full text

Cover

Loading…
More Information
Summary:Sposób formowania i pozycjonowania próbek żeli kruchych, zwłaszcza żeli krzemianowych, używanych do wyznaczania ich dynamicznych modułów sprężystości, charakteryzuje się tym, że do wnętrza wykrojnika (5) wprowadza się, przy podciśnieniu wynoszącym od 2% do 5% bezwzględnego ciśnienia atmosferycznego, próbkę badanego żelu, formując walec (6) o równoległych podstawach i o średnicy odpowiadającej średnicy gniazda (8) nad dolnym, pomiarowym czujnikiem (4), a następnie, pod nadciśnieniem wynoszącym od 2% do 5% bezwzględnego ciśnienia atmosferycznego, próbkę wyciska się na płaską płytkę (9) stanowiska badawczego i przesuwa się po górnej powierzchni (9a) tej płytki do gniazda (8) nad dolnym, pomiarowym czujnikiem (4), następnie opuszcza się górny czujnik (7), współosiowo usytuowany nad czujnikiem (4), na czoło próbki (6), kasując luz pomiędzy próbką, a tym czujnikiem, wyznaczony grubością dystansowej nakładki (2) stanowiska badawczego. Stanowisko badawcze do wyznaczania dynamicznych modułów sprężystości żeli kruchych ma zespół do umiejscowienia kruchej próbki (6) i jej osiowego pozycjonowania względem czujników (4, 7), złożony z dolnej płytki (9), ustalonej względem podstawy (1) stanowiska badawczego, posiadającej płaską, górną powierzchnię (9a), wystającą jednym końcem poza strefę czujników, z ułożonej na tej powierzchni dystansowej nakładki (2) o grubości większej od wysokości próbki oraz z drugiej nakładki (10) z poprzecznym otworem na czujnik (7), przy czym poprzeczny otwór jest współosiowy z otworem na czujnik (4) i gniazdo (8), wykonanym w dolnej płytce (9) i podstawie (1) stanowiska badawczego.
Bibliography:Application Number: PL20130404354