FUNCTIONAL MODULE AND MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME

• Main Authors: SEO Cheong Soo, GAIDUK Alexander, CHO Gyoungil, SOHN Jin Young, LIPPERT Helmut
• Format: Patent
• Language: English; Spanish
• Published: 25.03.2021
• Subjects: MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHYSICS; TESTING

The invention concerns a functional module (02) for a microscope. That functional module (02) comprises a mechanical interface (11) for removable mounting the functional module (02) to a module support of the microscope. The functional module (02) further comprises an optical interface (12) for establishing an optical path (09) from an objective (03) of the microscope to the functional module (02). Furthermore, the functional module (02) comprises at least one image sensor (21). The functional module (02) comprises a first and a second microelectromechanical optical system (17, 18). The first microelectromechanical optical system (17) is configured for enhancing a depth of field on a first optical subpath (14) that is directed to the image sensor (21). The second microelectromechanical optical system (18) is configured for enhancing a depth of field on a second optical subpath (16) that is directed to the image sensor (21). The invention further concerns a microscope. La invención se refiere a un módulo funcional (02) para un microscopio. El módulo funcional (02) comprende una interfaz mecánica (11) para montar removiblemente el módulo funcional (02) a un soporte de módulo del microscopio. El módulo funcional (02) comprende además una interfaz óptica (12) para establecer una trayectoria óptica (09) desde un objetivo (03) del microscopio hacia el módulo funcional (02). Además, el módulo funcional (02) comprende al menos un sensor de imagen (21). El módulo funcional (02) comprende un primer y un segundo sistema óptico microelectromecánico (17, 18). El primer sistema óptico microelectromecánico (17) se configura para mejorar una profundidad de campo sobre una primera subtrayectoria óptica (14) que se dirige al sensor de imagen (21). El segundo sistema óptico microelectromecánico (18) se configura para mejorar una profundidad de campo sobre una segunda subtrayectoria óptica (16) que se dirige al sensor de imagen (21). La invención además comprende a un microscopio.