재료의 검사를 위한 장치 및 방법

• Main Authors: MANZINI RICHARD, MOHR THOMAS C, POLICKE TIMOTHY A, HAVENER AARON C, SHELDON PAUL D, LATHAM WAYNE M
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 26.08.2024
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

재료를 검사하는 방법은 활성화될 때 와전류 센서가 재료의 전기 전도도 및 투자율의 변동에 따라 변하는 측정 신호를 출력하도록 재료에 근접하여 와전류 센서를 배치하는 단계를 포함한다. 와전류 센서가 활성화되고, 활성화된 와전류 센서가 표면 상의 위치에서 재료의 표면에 근접할 때 결과적인 측정 신호가 활성화된 와전류 센서로부터 취득된다. 측정 신호에 대응하는 데이터는 재료의 제1 미리 결정된 조건의 존재에 대응하는 제1 미리 결정된 기준과 비교된다. X-선 신호가 해당 위치에서 재료에 인가된다. 해당 위치에서의 X-선 신호의 인가로부터 발생되는 형광 신호가 취득된다. 형광 신호는 재료의 제2 미리 결정된 조건의 존재에 대응하는 제2 미리 결정된 기준과 비교된다. A method of inspecting a material includes examining a surface of a test material with an eddy current sensor and applying an X-ray fluorescence analysis to the surface of the test material at the same location at which the eddy current examination was performed.