이상 판정 방법, 이상 시의 처리 방법, 정보 처리 장치, 용접 시스템, 및 프로그램

화상 데이터로부터 추출되는 1 또는 복수의 특징점의 정보의 이상을 판정하는 이상 판정 방법으로서, 상기 1 또는 복수의 특징점의 정보로부터 도출되는 기하학량 데이터를 산출하는 산출 공정과, 상기 기하학량 데이터로 구성되는 시계열 데이터에 대해, 이상 이유에 대응하여 미리 정한 1 또는 복수의 이상 검지 수단을 이용하여 이상을 검지하는 이상 검지 공정과, 상기 1 또는 복수의 이상 검지 수단에 의한 검지 결과에 근거하여, 상기 시계열 데이터에 있어서의 이상의 발생을 판정하는 판정 공정을 갖는다. Provided is an abnorm...

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Main Authors YOSHIMOTO TATSUYA, FURUKAWA NAOHIDE, OZAKI KEITA
Format Patent
LanguageKorean
Published 30.07.2024
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Summary:화상 데이터로부터 추출되는 1 또는 복수의 특징점의 정보의 이상을 판정하는 이상 판정 방법으로서, 상기 1 또는 복수의 특징점의 정보로부터 도출되는 기하학량 데이터를 산출하는 산출 공정과, 상기 기하학량 데이터로 구성되는 시계열 데이터에 대해, 이상 이유에 대응하여 미리 정한 1 또는 복수의 이상 검지 수단을 이용하여 이상을 검지하는 이상 검지 공정과, 상기 1 또는 복수의 이상 검지 수단에 의한 검지 결과에 근거하여, 상기 시계열 데이터에 있어서의 이상의 발생을 판정하는 판정 공정을 갖는다. Provided is an abnormality determination method which determines an abnormality in one or a plurality of pieces of feature point information extracted from image data, wherein the abnormality determination method comprises: a calculation step for calculating geometric quantity data derived from the one or plurality of pieces of feature point information; an abnormality detection step for detecting abnormality for time-series data composed of the geometric quantity data by using one or a plurality of abnormality detection means that are predetermined in correspondence to an abnormality reason; and a determination step for determining the occurrence of the abnormality in the time-series data on the basis of the detection result from the one or plurality of abnormality detection means.
Bibliography:Application Number: KR20247021299