HANDLER FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다. 본 발명에 따른 핸들러는 전자부품이 외부에서 공급되어온 트레이에 그대로 실린 채 트레이와 분리된 전자부품들의 개별 이동이 없이 테스트가 될 수 있게 하는 연결부분을 가진다. 본 발명에 따르면 테스터의 가동 효율 및 처리 효율이 향상된다. The present invention relates to a handler for testing an electronic component. According to the present invention, the handler has a conn...

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Main Authors YOON WOON JOUNG, SHIN HEE TAEK, NAM KYUNG PYO
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 10.06.2024
Subjects
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
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Summary:본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다. 본 발명에 따른 핸들러는 전자부품이 외부에서 공급되어온 트레이에 그대로 실린 채 트레이와 분리된 전자부품들의 개별 이동이 없이 테스트가 될 수 있게 하는 연결부분을 가진다. 본 발명에 따르면 테스터의 가동 효율 및 처리 효율이 향상된다. The present invention relates to a handler for testing an electronic component. According to the present invention, the handler has a connection portion allowing electronic components to be tested without individual movement of electronic components separated from a tray supplied from the outside while being loaded on the tray. According to the present invention, the operation efficiency and processing efficiency of a tester are increased.
Bibliography:Application Number: KR20240069630