MEASUREMENT SYSTEM USING TERAHERTZ WAVE

테라헤르츠파를 이용한 도장막 측정 시스템으로서, 테라헤르츠파 에미터 및 테라헤르츠파 감지부를 포함하는 테라헤르츠 모듈과, 헤드에 상기 테라헤르츠파 모듈이 장착되는 로봇 암을 포함하고, 측정체에 상기 테라헤르츠파 에미터로부터 테라헤르츠파를 조사하고, 테라헤르츠파 감지부는 상기 측정체로부터 반사되는 테라헤르츠파를 감지하고, 상기 감지된 테라헤르츠파를 분석하여 도장막의 두께를 측정한다....

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Main Author HONG JI JOONG
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 31.05.2024
Subjects
CALCULATING
CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
COMPUTING
COUNTING
HAND TOOLS
IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MANIPULATORS
MEASURING
MEASURING ANGLES
MEASURING AREAS
MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS
PERFORMING OPERATIONS
PHYSICS
PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS
TESTING
TRANSPORTING
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Summary:테라헤르츠파를 이용한 도장막 측정 시스템으로서, 테라헤르츠파 에미터 및 테라헤르츠파 감지부를 포함하는 테라헤르츠 모듈과, 헤드에 상기 테라헤르츠파 모듈이 장착되는 로봇 암을 포함하고, 측정체에 상기 테라헤르츠파 에미터로부터 테라헤르츠파를 조사하고, 테라헤르츠파 감지부는 상기 측정체로부터 반사되는 테라헤르츠파를 감지하고, 상기 감지된 테라헤르츠파를 분석하여 도장막의 두께를 측정한다.
Bibliography:Application Number: KR20230164385