TEST SUBSTRATE TEST DEVICE AND TEST METHOD

• Main Authors: HONG CHANG UI, LEE MIN HO
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 26.04.2024
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; ELECTRICITY; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; SEMICONDUCTOR DEVICES; TESTING

본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 기판은, 제1 입력 패드와 제1 출력 패드가 배치되는 제1 입출력 영역, 상기 제1 입력 패드에 연결되는 제1 포지티브 패드, 상기 제1 출력 패드에 연결되는 제1 네거티브 패드, 제2 포지티브 패드, 및 제2 네거티브 패드가 배치되는 제1 실장 영역, 상기 제2 포지티브 패드에 연결되는 제3 포지티브 패드, 상기 제2 네거티브 패드에 연결되는 제3 네거티브 패드, 제4 포지티브 패드, 및 제4 네거티브 패드가 배치되는 제2 실장 영역, 및 상기 제4 포지티브 패드에 연결되는 제2 입력 패드, 및 상기 제4 네거티브 패드에 연결되는 제2 출력 패드가 배치되는 제2 입출력 영역을 포함한다. A substrate includes a first input/output region; a first input pad provided in the first input/output region; a first output pad provided in the first input/output region; a first mounting region; a first positive pad provided in the first mounting region and connected to the first input pad; a first negative pad provided in the first mounting region connected to the first output pad; a second positive pad provided in the first mounting region; a second negative pad provided in the first mounting region; a second mounting region; a third positive pad provided in the second mounting region and connected to the second positive pad; a third negative pad provided in the second mounting region and connected to the second negative pad; a fourth positive pad provided in the second mounting region; a fourth negative pad provided in the second mounting region; a second input/output region; a second input pad provided in the second input/output region and connected to the fourth positive pad; and a second output pad provided in the second input/output region and connected to the fourth negative pad.