Appearance defect analysis system for secondary battery and method for manufacturing secondary batteries using the same

• Main Authors: BAEK SEUNG MUN, YU HYO JIN, KANG MIN HYEONG, HWANG SEUNG JIN, YEO CHANG SIN, KIM HOE KYUNG, CHO HO KYUN
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 15.04.2024
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; CALCULATING; COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS; COMPUTING; COUNTING; DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES; ELECTRICITY; IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSIONOF CHEMICAL INTO ELECTRICAL ENERGY; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; TESTING

본 발명의 일 실시예에 따른 이차전지의 외관 불량 분석 시스템은, 이차전지의 외관 이미지를 획득하는 비젼 검사부; 상기 비젼 검사부가 획득한 이차전지의 외관 이미지에서, 외관 불량을 검출하고, 외관 불량 위치를 특정하며, 외관 불량을 종류별로 분류하여 이를 데이터 서버로 송출하도록 구성된 외관 불량 정보 데이터 처리부; 상기 외관 불량 정보 데이터 처리부로부터 수신한 외관 불량 정보, 이차전지의 제조 이력, 이차전지의 위치 별 컨택 제조 설비 정보가 저장된 데이터 서버; 조회 항목이 입력되면, 입력된 항목에 해당하는 이차전지의 외관 불량 정보를 통합하고, 통합한 외관 불량 정보가 이차전지 이미지 내에서 표시되는 외관 불량 맵을 생성하도록 구성된 프로세서; 및 조회 항목을 입력하고, 상기 외관 불량 맵을 디스플레이 하도록 구성된 인터페이스부를 포함할 수 있다.