SHIFTED MICRO-LENSES FOR INCREASED IMAGING DEVICE PERFORMANCE

• Main Authors: HUANG CHENG YU, CHOU KENG YU, CHUANG CHUN HAO, WU WEN HAU, CHANG CHIH KUNG, CHIANG WEI CHIEH
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 05.04.2024
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; ELECTRICITY; SEMICONDUCTOR DEVICES

본 개시의 다양한 실시예들은 반도체 기판 내에 배치된 픽셀 유닛을 각각 포함하는 제1 이미지 센서 엘리먼트 및 제2 이미지 센서 엘리먼트를 포함하는 이미징 디바이스에 관한 것이다. 제1 이미지 센서 엘리먼트는 제2 이미지 센서 엘리먼트에 인접해 있다. 제1 마이크로렌즈가 제1 이미지 센서 엘리먼트 위에 놓여 있고 제1 이미지 센서 엘리먼트의 픽셀 유닛의 중심으로부터 제1 렌즈 시프트량만큼 횡측으로 시프트된다. 제2 마이크로렌즈가 제2 이미지 센서 엘리먼트 위에 놓여 있고 제2 이미지 센서 엘리먼트의 픽셀 유닛의 중심으로부터 제1 렌즈 시프트량과는 상이한 제2 렌즈 시프트량만큼 횡측으로 시프트된다. Various embodiments of the present disclosure are directed towards an imaging device including a first image sensor element and a second image sensor element respectively comprising a pixel unit disposed within a semiconductor substrate. The first image sensor element is adjacent to the second image sensor element. A first micro-lens overlies the first image sensor element and is laterally shifted from a center of the pixel unit of the first image sensor element by a first lens shift amount. A second micro-lens overlies the second image sensor element and is laterally shifted from a center of the pixel unit of the second image sensor element by a second lens shift amount different from the first lens shift amount.