Reliability test system for system semiconductors operating at high frequency

기가급 고속 주파수로 동작하는 시스템 반도체의 신뢰성 테스트 시스템은, 미리 설정된 온도범위에서 기가 헤르츠급 신호로 동작 테스트를 진행하기 위한 복수의 고속주파수 번인검사부와, 복수의 고속주파수 번인검사부 중 선택된 어느 하나 이상의 고속주파수 번인검사부에서 장착된 반도체 소자로 테스트 신호인 소정의 기가 헤르츠의 주파수를 인가할 때, 선택된 어느 하나 이상의 고속주파수 번인검사부의 구동전원을 실시간으로 감지함에 있어서, 고속주파수 번인검사부의 구동전원이 미리 설정된 변동범위를 초과할 경우, 구동전원의 전압레벨을 변경시키는 전원...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors LEE YOUNG SIM, CHOI YOUNG WOONG, JUNG DONG SOO, SUNG WOONG CHAN
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 05.04.2024
Subjects
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
Online AccessGet full text

Cover

More Information
Summary:기가급 고속 주파수로 동작하는 시스템 반도체의 신뢰성 테스트 시스템은, 미리 설정된 온도범위에서 기가 헤르츠급 신호로 동작 테스트를 진행하기 위한 복수의 고속주파수 번인검사부와, 복수의 고속주파수 번인검사부 중 선택된 어느 하나 이상의 고속주파수 번인검사부에서 장착된 반도체 소자로 테스트 신호인 소정의 기가 헤르츠의 주파수를 인가할 때, 선택된 어느 하나 이상의 고속주파수 번인검사부의 구동전원을 실시간으로 감지함에 있어서, 고속주파수 번인검사부의 구동전원이 미리 설정된 변동범위를 초과할 경우, 구동전원의 전압레벨을 변경시키는 전원 관리부와, 복수의 고속주파수 번인검사부와 각각 연결되며, 반도체 소자로 입력되는 신호와 반도체 소자에서 출력되는 신호를 실시간으로 모니터링하며, 모니터링 결과를 외부에 전송하는 테스트 확인부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Bibliography:Application Number: KR20220124105