CXL Systems and Methods for Testing CXL Enabled Devices in Parallel

효율적이고 효과적인 테스트 시스템 및 방법이 제공된다. 일 실시예에서, 테스트 시스템은, 시스템과의 사용자 상호작용을 가능하게 하도록 구성된 사용자 인터페이스와, 복수의 테스트 대상 장치(device under test: DUT)들과 통신 가능하게 결합되도록 구성된 테스트 보드 - DUT들은 CXL(compute express link) 프로토콜과 호환됨 - 와, 복수의 DUT들의 테스트를 지시하도록 구성된 테스터를 포함하는데, 테스터는 복수의 DUT들에 걸쳐 유연하고 독립적인 병렬 테스트를 관리하는 것을 포함하여 복수의 DUT들의...

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Main Authors YUAN CHI, MALISIC SRDJAN
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 28.03.2024
Subjects
CALCULATING
COMPUTING
COUNTING
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
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Summary:효율적이고 효과적인 테스트 시스템 및 방법이 제공된다. 일 실시예에서, 테스트 시스템은, 시스템과의 사용자 상호작용을 가능하게 하도록 구성된 사용자 인터페이스와, 복수의 테스트 대상 장치(device under test: DUT)들과 통신 가능하게 결합되도록 구성된 테스트 보드 - DUT들은 CXL(compute express link) 프로토콜과 호환됨 - 와, 복수의 DUT들의 테스트를 지시하도록 구성된 테스터를 포함하는데, 테스터는 복수의 DUT들에 걸쳐 유연하고 독립적인 병렬 테스트를 관리하는 것을 포함하여 복수의 DUT들의 테스트를 관리한다. 하나의 예시적 구현에서, 테스터는 복수의 DUT들에 포함된 DUT들에 대해 독립적으로 워크로드(workloads)를 생성하고 관리한다. DUT들은 메모리 장치일 수 있고, 테스터는 상이한 메모리 공간들을 병렬로 테스트하도록 구성된다. 상이한 메모리 공간들은 다양한 구현을 가질 수 있다(예컨대, 복수의 DUT들에 포함되는 것, 상이한 메모리 공간들이 복수의 DUT들에 포함된 DUT들 중 하나 내에 있는 것 등). DUT들의 개별 특성에 기초하여 워크로드가 생성되고 개별적으로 관리될 수 있다. 테스트는 성능 테스트(예컨대, 대역폭 테스트, 대기 시간(latency) 테스트, 오류 테스트 등)를 포함할 수 있다.
Bibliography:Application Number: KR20230125486