형광 입자의 비율계량 특성화 방법 및 장치

• Main Authors: BAASKE PHILIPP, LANGER PATRICK ANDREAS MARKUS
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 12.03.2024
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

본 발명은 형광 표지된 입자의 형광 스펙트럼의 변화를 분석함으로써 용액 내 형광 표지된 입자의 특성화하는 장치 및 방법에 관한 것이다. 특히, 형광 표지된 입자의 샘플은 형광 여기 및 해당 형광 방출 검출을 통해 상이한 조건/환경에서 분석된다. 상기 입자는 이러한 상이한 조건/환경에서 검출된 형광 방출을 분석하는 것을 특징으로 한다. 구체적으로, 본 발명은 형광 표지된 입자의 분자간 및/또는 분자내 상호작용의 비율계량 특성화 및/또는 형태 변형 및/또는 위치화를 위한 방법 및 장치에 관한 것이다. The present invention relates to devices and methods for the characterization of fluorescently labeled particles in solution by analyzing alterations in the fluorescence spectrum of the fluorescently labeled particles. In particular, a sample of fluorescently labeled particles is analyzed under different conditions/environments by fluorescent excitation and detection of the corresponding fluorescence emissions. The particles are characterized by analyzing the detected fluorescence emissions under these different conditions/environments. More specifically, the present invention relates to methods and devices for ratiometric characterization of inter- and/or intramolecular interactions, and/or conformational modifications and/or localization of fluorescently labeled particles.