A method of measuring the thickness of a display device

일 실시예에 따른 표시 장치의 두께 측정 방법은 표시 장치의 광감지 화소에 외광을 주사하여 센싱값을 획득하는 단계 및 표시 장치 태그부의 유기막 두께를 측정하여 센싱값과 비교하는 단계를 포함한다. A method of measuring a thickness of a display device according to an embodiment includes: acquiring a sensing value by scanning external light to a photo sensing pixel of the display device...

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Main Author YE SANGHEON
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 06.03.2024
Subjects
CALCULATING
COMPUTING
COUNTING
ELECTRICITY
MEASURING
MEASURING ANGLES
MEASURING AREAS
MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS
PHYSICS
TESTING
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Summary:일 실시예에 따른 표시 장치의 두께 측정 방법은 표시 장치의 광감지 화소에 외광을 주사하여 센싱값을 획득하는 단계 및 표시 장치 태그부의 유기막 두께를 측정하여 센싱값과 비교하는 단계를 포함한다. A method of measuring a thickness of a display device according to an embodiment includes: acquiring a sensing value by scanning external light to a photo sensing pixel of the display device; and measuring an organic layer thickness at a tag part of the display device and comparing the measured thickness with the sensing value.
Bibliography:Application Number: KR20220107783